《一種六線制分離式惠斯通電橋測溫結構及方法》是中國科學院上海技術物理研究所於2020.01.17申請的專利，該專利的公布號為：CN111207851B，專利公布日：2021.06.15，發明人是：丁雷; 辛世傑; 裴浩東; 楊溢。
基本介紹
- 中文名：一種六線制分離式惠斯通電橋測溫結構及方法
- 授權公告號：CN111207851B
- 授權公告日：2020.01.17
- 申請號：202010051794X
- 申請日：2020.01.17
- 專利權人：中國科學院上海技術物理研究所
- 地址：200083上海市虹口區玉田路500號
- 發明人：丁雷; 辛世傑; 裴浩東; 楊溢
- Int. Cl.：G01K7/20(2006.01)I
- 專利代理機構：上海滬慧律師事務所31311
- 代理人：郭英
- 對比檔案：CN 102368086 A,2012.03.07
專利摘要
本發明公開了一種六線制分離式惠斯通電橋測溫結構及方法，該結構包括三個銅熱電阻R1、R2、R3、和一個鉑電阻Rt。其特徵在於：該惠斯通電橋由銅熱電阻R1、R2、R3、和一個鉑電阻Rt組成，銅熱電阻R1和鉑熱電阻Rt組成一側橋臂，銅熱電阻R2、R3組成另一側橋臂。六根導線分為三組：A1、A2為該結構的供電導線，連線到惠斯通電橋的兩側；B1、B2為測量該結構實際供電電壓導線，也連線到惠斯通電橋的兩側；C1、C2為測量惠斯通電橋橋臂電壓差值導線，C1連線到電路節點Y，C2連線到電路節點X。該測溫結構適合長距離、高解析度、高準確度的溫度測量套用，優點是支持後級放大器的高放大倍數測量，可以消除長距離帶來的導線電阻及溫差熱電勢對測量結果的影響。
