基本介紹
- 中文名：光電探測器
- 外文名：Photodetector
- 領域：軍事和國民經濟的
- 用於：射線測量和探測、工業自動控制
分類,套用,工作原理,技術要求,主要產品,
分類
套用
光電探測器件的套用選擇，實際上是套用時的一些事項或要點。在很多要求不太嚴格的套用中，可採用任何一種光電探測器件。不過在某些情況下，選用某種器件會更合適些。例如，當需要比較大的光敏面積時，可選用真空光電管，因其光譜回響範圍比較寬，故真空光電管普遍套用於分光光度計中。當被測輻射信號微弱、要求回響速度較高時，採用光電倍增管最合適，因為其放大倍數可達10^4～10^8以上，這樣高的增益可使其信號超過輸出和放大線路內的噪聲分量，使得對探測器的限制只剩下光陰極電流中的統計變化。因此，在天文學、光譜學、雷射測距和閃爍計數等方面，光電倍增管得到廣泛套用。
探測器結構
探測器結構固體光電探測器用途非常廣。CdS光敏電阻因其成本低而在光亮度控制（如照相自動曝光）中得到採用；光電池是固體光電器件中具有最大光敏面積的器件，它除用做探測器件外，還可作太陽能變換器；矽光電二極體體積小、回響快、可靠性高，而且在可見光與近紅外波段內有較高的量子效率，因而在各種工業控制中獲得套用。矽雪崩管由於增益高、回響快、噪聲小，因而在雷射測距與光纖通信中普遍採用。
photoconductive detector 利用半導體材料的光電導效應製成的一種光探測器件。所謂光電導效應，是指由輻射引起被照射材料電導率改變的一種物理現象。光電導探測器在軍事和國民經濟的各個領域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用於射線測量和探測、工業自動控制、光度計量等；在紅外波段主要用於飛彈制導、紅外熱成像、紅外遙感等方面。光電導體的另一套用是用它做攝像管靶面。為了避免光生載流子擴散引起圖像模糊，連續薄膜靶面都用高阻多晶材料,如PbS-PbO、Sb2S3等。其他材料可採取鑲嵌靶面的方法，整個靶面由約10萬個單獨探測器組成。
1873年，英國W.史密斯發現硒的光電導效應，但是這種效應長期處於探索研究階段，未獲實際套用。第二次世界大戰以後，隨著半導體的發展，各種新的光電導材料不斷出現。在可見光波段方面，到50年代中期，性能良好的硫化鎘、硒化鎘光敏電阻和紅外波段的硫化鉛光電探測器都已投入使用。60年代初，中遠紅外波段靈敏的Ge、Si摻雜光電導探測器研製成功，典型的例子是工作在3～5微米和8～14微米波段的Ge:Au（鍺摻金）和Ge:Hg光電導探測器。60年代末以後,HgCdTe、PbSnTe等可變禁頻寬度的三元系材料的研究取得進展。 工作原理和特性 光電導效應是內光電效應的一種。當照射的光子能量hv等於或大於半導體的禁頻寬度Eg時，光子能夠將價帶中的電子激發到導帶，從而產生導電的電子、空穴對,這就是本徵光電導效應。這裡h是普朗克常數，v是光子頻率,Eg是材料的禁頻寬度（單位為電子伏）。因此，本徵光電導體的回響長波限λc為 λc=hc/Eg=1.24/Eg (μm) 式中 c為光速。本徵光電導材料的長波限受禁頻寬度的限制。
在60年代初以前還沒有研製出適用的窄禁頻寬度的半導體材料，因而人們利用非本徵光電導效應。Ge、Si等材料的禁帶中存在各種深度的雜質能級，照射的光子能量只要等於或大於雜質能級的離化能，就能夠產生光生自由電子或自由空穴。非本徵光電導體的回響長波限λ由下式求得 λc=1.24/Ei 式中Ei代表雜質能級的離化能。到60年代中後期，Hg1-xCdxTe、PbxSn1-xTe、PbxSn1-xSe等三元系半導體材料研製成功,並進入實用階段。它們的禁頻寬度隨組分x值而改變，例如x=0.2的HG0.8Cd0.2Te材料，可以製成回響波長為 8～14微米大氣視窗的紅外探測器。它與工作在同樣波段的Ge：Hg探測器相比有如下優點：
工作溫度高（高於77K），使用方便,而Ge:Hg工作溫度為38K；本徵吸收係數大,樣品尺寸小；易於製造多元器件。表1和表2分別列出部分半導體材料的Eg、Ei和λc值。
通常，凡禁頻寬度或雜質離化能合適的半導體材料都具有光電效應。但是製造實用性器件還要考慮性能、工藝、價格等因素。常用的光電導探測器材料在射線和可見光波段有：CdS、CdSe、CdTe、Si、Ge等;在近紅外波段有：PbS、InGaAs、PbSe、InSb、Hg0.75Cd0.25Te等;在長於8微米波段有:Hg1-xCdxTe、PbxSn1-x、Te、Si摻雜、Ge摻雜等；CdS、CdSe、PbS等材料可以由多晶薄膜形式製成光電導探測器。 可見光波段的光電導探測器 CdS、CdSe、CdTe 的回響波段都在可見光或近紅外區域，通常稱為光敏電阻。它們具有很寬的禁頻寬度（遠大於1電子伏）,可以在室溫下工作，因此器件結構比較簡單，一般採用半密封式的膠木外殼，前面加一透光視窗，後面引出兩根管腳作為電極。高溫、高濕環境套用的光電導探測器可採用金屬全密封型結構，玻璃視窗與可伐金屬外殼熔封。
器件靈敏度用一定偏壓下每流明輻照所產生的光電流的大小來表示。例如一種CdS光敏電阻,當偏壓為70伏時，暗電流為10-6～10-8安，光照靈敏度為3～10安/流明。CdSe光敏電阻的靈敏度一般比 CdS高。光敏電阻另一個重要參數是時間常數 τ，它表示器件對光照反應速度的大小。光照突然去除以後，光電流下降到最大值的 1/e（約為37%）所需的時間為時間常數 τ。也有按光電流下降到最大值的10%計算τ的;各種光敏電阻的時間常數差別很大。CdS的時間常數比較大（毫秒量級）。 紅外波段的光電導探測器 PbS、Hg1-xCdxTe 的常用回響波段在 1～3微米、3～5微米、8～14微米三個大氣透過視窗。由於它們的禁頻寬度很窄，因此在室溫下，熱激發足以使導帶中有大量的自由載流子，這就大大降低了對輻射的靈敏度。
回響波長越長的光，電導體這種情況越顯著，其中1～3微米波段的探測器可以在室溫工作（靈敏度略有下降）。3～5微米波段的探測器分三種情況：
在室溫下工作，但靈敏度大大下降，探測度一般只有1～7×108厘米·瓦-1·赫；熱電致冷溫度下工作(約-60℃),探測度約為109厘米·瓦-1·赫；77K或更低溫度下工作,探測度可達1010厘米·瓦-1·赫以上。8～14微米波段的探測器必須在低溫下工作，因此光電導體要保持在真空杜瓦瓶中，冷卻方式有灌注液氮和用微型製冷器兩種。
紅外探測器的時間常數比光敏電阻小得多,PbS探測器的時間常數一般為50～500微秒,HgCdTe探測器的時間常數在10-6～10-8秒量級。紅外探測器有時要探測非常微弱的輻射信號,例如10-14 瓦；輸出的電信號也非常小,因此要有專門的前置放大器。
在動態特性（即頻率回響與時間回響）方面，以光電倍增管和光電二極體（尤其是PIN管與雪崩管）為最好；在光電特性（即線性）方面，以光電倍增管、光電二極體和光電池為最好；在靈敏度方面，以光電倍增管、雪崩光電二極體、光敏電阻和光電三極體為最好。值得指出的是，靈敏度高不一定就是輸出電流大，而輸出電流大的器件有大面積光電池、光敏電阻、雪崩光電二極體和光電三極體；外加偏置電壓最低的是光電二極體、光電三極體，光電池不需外加偏置；在暗電流方面，光電倍增管和光電二極體最小，光電池不加偏置時無暗電流，加反向偏置後暗電流也比光電倍增管和光電二極體大；長期工作的穩定性方面，以光電二極體、光電池為最好，其次是光電倍增管與光電三極體；在光譜回響方面，以光電倍增管和CdSe光敏電阻為最寬，但光電倍增管回響偏紫外方向，而光敏電阻回響偏紅外方向。
工作原理
光電子發射器件：光電管與光電倍增管是典型的光電子發射型（外光電效應）探測器件。其主要特點是靈敏度高，穩定性好，回響速度快和噪聲小，是一種電流放大器件。尤其是光電倍增管具有很高的電流增益，特別適於探測微弱光信號；但它結構複雜，工作電壓高，體積較大。
光電導器件：利用具有光電導效應的半導體材料做成的光電探測器稱為光電導器件，通常叫做光敏電阻。在可見光波段和大氣透過的幾個視窗，即近紅外、中紅外和遠紅外波段，都有適用的光敏電阻。光敏電阻被廣泛地用於光電自動探測系統、光電跟蹤系統、飛彈制導、紅外光譜系統等。
硫化鎘CdS和硒化鎘CdSe光敏電阻是可見光波段用得最多的兩種光敏電阻；硫化鉛PbS光敏電阻是工作於大氣第一個紅外透過視窗的主要光敏電阻，室溫工作的PbS光敏電阻回響波長範圍1.0～3.5微米，峰值回響波長2.4 微米左右；銻化銦InSb光敏電阻主要用於探測大氣第二個紅外透過視窗，其回響波長3～5μm；碲鎘汞器件的光譜回響在8～14 微米，其峰值波長為10.6微米，與CO2雷射器的雷射波長相匹配，用於探測大氣第三個視窗（8～14微米）°
技術要求
為了提高傳輸效率並且無畸變地變換光電信號，光電探測器不僅要和被測信號、光學系統相匹配，而且要和後續的電子線路在特性和工作參數上相匹配，使每個相互連線的器件都處於最佳的工作狀態。現將光電探測器件的套用選擇要點歸納如下：
光電探測器必須和光信號的調製形式、信號頻率及波形相匹配，以保證得到沒有頻率失真的輸出波形和良好的時間回響。這種情況主要是選擇回響時間短或上限頻率高的器件，但在電路上也要注意匹配好動態參數；
光電探測器必須和輸入電路在電特性上良好地匹配，以保證有足夠大的轉換係數、線性範圍、信噪比及快速的動態回響等；
為使器件能長期穩定可靠地工作，必須注意選擇好器件的規格和使用的環境條件，並且要使器件在額定條件下使用；
主要產品
按功能市場分析：
全金屬探測器：能檢測到所有不同材質的金屬雜質，所以這款產品在全球市場來說，占有率是最高的，也比較受到各種用戶的喜愛。而且這款產品用途很廣，主要用於專門用於肉類、菌類、糖果、飲料、糧食、果蔬、乳製品、水產品、保健品、添加劑和調味品等食品中的鐵金屬以及非鐵金屬雜質的檢測；用於化工原料、橡膠、塑膠、紡織品、皮革、化纖、玩具中的金屬雜質檢測用於醫藥、保健品、生物製品、化妝品、禮品、包裝、紙品中的金屬雜質；鐵金屬探測器，又叫“檢針機”“驗針機”“過針機”這類產品只能用於檢測鐵金屬雜質，主要用於服裝，紡織等縫製品行業，用於檢測縫製品生產過程中遺留中產品中的斷針。特別提醒：檢針機不能套用於食品行業，因為檢針機主要靠物理磁場和電磁場磁力檢測，（檢針機的探測頭裡面是磁鐵），檢針機的靈敏度會隨著磁鐵的磁性減弱而降低，所以這款設備使用壽命較短，再加上檢針機只能檢測鐵金屬，市場上面臨淘汰的局面；鋁箔金屬探測器：主要用於檢測鋁膜或者鋁鉑包裝的產品。工來生產中的很多藥品，食品都用鋁膜或者鋁鉑包裝，只能用這類設備來檢測。這款產品技術水平比較高，價格比較昂貴。一般價格在三十萬以上。
