X射線物相鑑定

以單色的 特徵X射線作用於固態多相體系的粉末樣可得到與不同晶 面間距d值對應的相對衍射強度I/Iu數據組。由於每一種 晶相強度最強的屯個衍射對應的d值有類似“指紋”的特徵 作用，通過檢索As’fM物相粉晶衍射數據卡，進行對照，可對 休系中的諸物相進行識別與鑑定，這種方法稱作又射線物相 鑑定或物相分析。