X射線法

X射線法X-ray method：X射線是一種波長很短（一般為0.001～10nm）、具有高能量高穿透能力的射線。在礦物學中人們普遍用其分析研究品體的內部結構，但這時所使用的樣品為粉未狀，即所謂的“X射線粉末街射法”，故此法顯然不適用於寶石的無損鑑定。在寶石領域中使用較多的是，觀測寶石的X射線發射光譜或X射線的吸收光譜，來比較確定寶石的品種的方法。前者是把寶石放在X射線管的陽極上，用高速電子流轟擊樣品，使其發出X射線譜，然後記錄其譜線並與已知譜線對比來確定樣品的品種；後者則是用X射線來照射樣品，然後測定透過該寶石後的X射線譜，再根據譜線來確定樣品的品種。由於後一種方法相對易行，所以使用較廣。X射線法也常用於分析鑑別無核的天然珍珠和有核的養殖珍珠。此時則是利用X射線的穿透能力，從而獲得透射後的圖像（有核珠常可顯示出珠核），也可獲得因有核珠與無核珠的內部結構不同而呈現出來的不同衍射圖像。