X射線分析螢光顯微鏡

X射線分析螢光顯微鏡是一種用於考古學領域的分析儀器，於2011年3月17日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線分析螢光顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：考古學
• 啟用日期：2011年3月17日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

樣品台：100mm*100mm，X光管直徑：100um，1.2mmXGT，元素：Na-U，檢出範圍：ppm~%。

主要功能

可檢測從Na至U元素，原子序數大於K的元素，檢出限可達ppm級別。大樣品室，樣品室尺寸為500*500*100，側重文物等珍貴樣品的無損分析。