掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀(掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀)

smps(掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀)一般指本詞條

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掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀是一種用來測量粒徑在3~1000nm範圍內的超細氣溶膠顆粒的高科技產品。它採用一種靜電分級器來測量顆粒物尺寸,並採用凝聚粒子計數器(CPC)來測定顆粒物的濃度。

基本介紹

  • 中文名:掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀
  • 粒徑範圍:0.003~1μm
  • 濃度:108#/cm3
  • 解析度:162通道
主要技術參數,主要特點,儀器介紹,

主要技術參數

· 粒徑範圍:0.003~1μm
· 最大顆粒物濃度:108#/cm3
· 最高解析度:162通道
· 測量周期:60~600 sec
· 操作溫度:10~35℃
· 操作壓強:100±20 kPa

主要特點

· 快速結果:60s內完成全掃描
· 高解析度:162通道
· 濃度範圍寬:0.003~1μm
· 粒徑範圍寬:1~108#/cm3
· 模組化部件:DMA和CPC可單獨使用

儀器介紹

3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一種用來測量粒徑在3~1000nm範圍內的超細氣溶膠顆粒的高科技產品。它採用一種靜電分級器來測量顆粒物尺寸,並採用凝聚粒子計數器(CPC)來測定顆粒物的濃度。SMPS系統的主要優點有:
快速結果:在60s甚至更短的時間內完成顆粒物粒徑分布的掃描;
高分辨的數據:掃描是連續的,因此在數據分布上不存在間隙。總測量通過為162個,每十進範圍64個通道,SMPS系統可為任何超細微粒粒徑測定提供最高的準確度。
寬的粒徑範圍:套用多樣性的3080系列靜電分級器和凝聚粒子計數器,SMPS系統可提供3~1000nm範圍內的顆粒物粒徑測量。
寬的濃度範圍:SMPS系統可在1~10的8次方個/立方厘米範圍之間進行濃度掃描。
操作簡單:靜電分級器配有內置前通道面板和控制把手,允許用戶通過快速設定進行掃描,並監測或控制儀器功能。
實時數據顯示:3936系列的分析軟體(AIM3936)可在微軟Windows作業系統下工作(參見計算機配置部分),操作簡單,並可實時顯示各種圖形、表格和統計數據。
TSI 提供了多種標準SMPS配置。粒徑和濃度範圍將因所選擇的DMA 和CPC而異。要決定哪種SMPS適合自己,請參考上頁的配置表格以及本手冊最後的定購部分包括DMA電遷移分級器、CPC粒子計數器與控制系統。

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