PXI射頻阻抗測試儀

PXI射頻阻抗測試儀是一種用於信息科學與系統科學領域的電子測量儀器，於2016年3月2日啟用。

基本介紹

• 中文名：PXI射頻阻抗測試儀
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學
• 啟用日期：2016年3月2日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器 > 射頻和微波測量系統

技術指標

最大輻射功率10dBm，發射信號頻率 100M- 6.6GHz 接收信號頻率：100M-6.6GHz , 信號頻寬100MHz。

主要功能

射頻信號收發，可程式產生各種所需信號，同時對射頻信號進行接收分析。