PXI射頻測試系統

PXI射頻測試系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2010年9月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：PXI射頻測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2010年9月13日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器 > 射頻和微波測量系統

技術指標

1、系統頻寬為1 GB/s; 插槽頻寬為250MB/s 2、2.7 GHz矢量信號分析儀，帶數字下變頻 3、可數字上變頻的2.7 GHz RF 矢量信號發生器 4、7位半PXI數字萬用表。

主要功能

可進行射頻信號參數測量。