LS-C(II)型乾法雷射粒度儀

LS-C(II)型乾法雷射粒度儀

LS-C(II)型乾法雷射粒度儀,採用乾法,即壓縮空氣分散被測粉體,專門為不宜在液體中分散的固體粉末的粒度測量而設計。

基本介紹

  • 中文名:LS-C(II)型乾法雷射粒度儀
  • 屬於:科研儀器
  • 適用:粒度測量
  • 特點:乾法
評價,特點,

評價

LS-C(II)型在LS-C(I)型基礎上進行了一體化設計,更加美觀和方便。適合於各類在水溶液中會使其化學、物理性質發生改變的粉體樣品的粒度測試

特點

1. 乾法分散樣品,避免了樣品在液體中的物理或化學變化。
2. 測試過程不消耗分散介質和分散劑,省錢且環保。
3. 採用了歐美克專有的兩項專利,測量精度高。
4. 全量程測量,勿需更換鏡頭,使用更方便。
5. 專門為水泥行業設計的細度、比表面積、R-參數和固定粒徑上的百分含量。

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