Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟體，通常用於量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導體晶片、和其它許多反射或不反射的表面。
基本介紹
- 中文名：干涉條紋分析仿真軟體
- 外文名：IntelliWave
- 套用的領域：雷射的外型和反射特性的量測
- 天文上套用：天文鏡片、天文望遠鏡
簡介,功能,
簡介
Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟體
為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要製造一個光學相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在於鑑定待測光學儀器的表面外型。Intelliwave 結合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數據信息的優點。
Intelliwave 套用的領域：
高功率雷射的外型和反射特性的量測
極溫度（ Extreme Temperature）的套用
天文上的套用 : 天文鏡片、天文望遠鏡
光學量測
對於非球狀光學結構有高解析度
在半導體上的套用
全像攝影
光學糹統的動態控制
Cutting Edge Research and Development
Mom and Pop Application
功能
ntelliwave 功能說明：
硬體獨立
Intelliwave可以對許多種類的光源的干涉圖形作處理，包括攝影機、掃瞄器，對於一般圖象檔案和工業科學的檔案系統也可適用，因為Intelliwave的硬體獨立性，它可以利用不同形式的干涉儀攫取和分析任何波長的干涉圖形，這些干涉儀包括了Twyman-Green、Michelson、Fizeau、Simultaneous Phase Shifting和Holographic Speckle interferometers。
時間（Temporal）和空間（Spatial）的相位測量干涉儀
相位測量干涉儀（ PMI ）可以直接量測波前相位的測試光及參考光光程差， Intelliwave 有支持 PMI ，並且利用干涉儀量測波前相位，這在現今的技術中套用的很廣泛。相位測量干涉儀可以分成兩個部分： 多個連續相移的干涉圖及單一干涉圖， 第一個部分使用方法最著名的是 TPMI ；第二個部分使用方法最著名的是 SPMI ，而 Intelliwave 有支持這些方法。
Fringe Tracing
Fringe Tracing是將單一的干涉條紋圖最大以及最小的輪廓把它描繪出來，並分配輪廓級別於每一邊緣（ fringe ），而根據輪廓線使用差補法去生成surface map 。
分析特性
Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括統計信息、像差、繞射分析、圖象加工、以及 幾何圖象轉換。 它支持了多樣化干涉圖形的處理技術，也可把干涉圖轉換成光學相位差(OPD)或表面圖（surface map），Intelliwave還具有處理實時信息及對有雜訊的信息作有效處理。
自動化和質量監控
Intelliwave具有更強大的自動化及品管功能，有自動反覆測量或自動化分析的功能。此外，所有參數可以作統計且可針對使用者需要做像差的自動質量測試。?lug-In Architecture and ActiveX interfaces使用者可以自己製作程式和Intelliwave作連結，許多ActiveX軟體已經可以跟Intelliwave作連結，包括了：LabVIEW、Research Systems IDL、Math Work、 Matlab和Microsoft Excel，透過這些軟體的相互連緊，干涉儀信息可以在這些程式中作雙項的轉換。
最新版信息
AK100 Fizeau Interferometer (open pdf file)
HASO II New Generation Wavefront Senso (open pdf file)
I-Fizeau ,Instantaneous Phase-Shifting Fizeau Interferometer (open pdf file)
SBSI ,Small Beam Shear Interferometer (open pdf file)
