基本介紹
- 中文名：X射線吸收精細結構譜
- 外文名：EXAFS (Extended X-ray absorption fine structure)
基本介紹,EXAFS優勢,
基本介紹
EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure)簡介
迄今為止的物質結構探測技術一般都是以晶體—長程有序結構的衍射現象為基礎,XAFS(X-Ray AbsorptionFine Structure,X光吸收精細結構譜)是例外。XAFS之所以能成為研究非晶(包括液體)結構的有力工具,原因在於它是以散射現象———近鄰原子對中心吸收原子出射光電子的散射為基礎,反映的僅僅是物質內部吸收原子周圍短程有序的結構狀態。晶體學的理論和結構研究方法不適用於非晶體,而XAFS的理論和方法卻能同時適用於晶體和非晶體,其原因即在於此。
EXAFS的產生與吸收原子及其周圍其他原子的散射有關,即都與結構有關。因而可通過測量EXAFS來研究吸收原子周圍的近鄰結構，得到原子間距、配位數、原子均方位移等參量。 EXAFS方法的特點主要是可以對不同種類原子分別進行測量，給出指定元素原子的近鄰結構,也可區分近鄰原子的種類。利用強X射線源還可研究含量很少的原子的近鄰結構狀況，而且無論對於有序物質或無序物質均可進行研究。這樣,EXAFS就能用於解決一些其他方法難以或不能解決的物質結構問題。
EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure)
吸收邊產生的原因：
當入射X光子的能量等於被照射樣品某內層電子的電離能時，會被大量吸收
XAFS包括EXAFS和XANES兩種技術 EXAFS 是元素的X射線吸收係數在吸收邊高能側 30-1000 eV 範圍出現的振盪。
XANES (X-ray absorption near edge structure)
是元素吸收邊位置50 eV範圍內的精細結構。
(精細結構：吸收邊附近及其廣延段存在一些分立的峰或波狀起伏，稱精細結構)
EXAFS優勢
1.不依賴晶體結構，因此可用於大量的非晶態材料的研究
2.不受其他元素的干擾，對不同的元素的原子，可由吸收邊位置不同，而得以分別研究
3.可測配位原子的種類、個數、間距等
4.濃度很低的樣品，百萬分之幾的元素也能分析
5.樣品製備比較簡單，數據收集時間短
