CCD成像系統性能參數綜合檢測儀

CCD成像系統性能參數綜合檢測儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2011年7月4日啟用。

基本介紹

• 中文名：CCD成像系統性能參數綜合檢測儀
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2011年7月4日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

光源譜段：300nm~1000nm 出口照明面均勻性：96% 照度範圍： 10的-4次方到10的4次方lx範圍可調 可測參數： MTF、分辨力、噪聲、畸變、均勻性、光電轉換函式、動態範圍和色彩還原性。

主要功能

儀器主要用於CCD成像系統的分辨力、調製傳遞函式（MTF）、光電轉換函式等性能參數的檢測，服務於醫學數字成像儀器成像性能評測及醫學影像計量研究。