CCD天體測量學

CCD天體測量學,以電荷耦合器件(CCD)為天體測量儀器終端設備進行天體測量的學科。

基本介紹

  • 中文名:CCD天體測量學
  • 解釋:以電荷耦合器件(CCD)為天體測量儀器終端設備進行天體測量的學科
主要優點,具體內容,

主要優點

從有上百年歷史的照相天體測量演變而來,CCD技術相對照相技術的主要優點是:光譜回響範圍寬,紅敏性好;量子效率高,可達30%~90%;線性回響度高,覆蓋星等範圍達7等以上;可實時歸算處理。由於這些突出的優點,CCD技術已取代了照相技術,而照相天體測量學則發展成為CCD天體測量學。其主要任務是測量、研究天體在天球上的位置和運動。

具體內容

具體內容包括:①天體(包括人造天體)球面坐標的測定。②恆星自行,包括雙星、聚星系統運動的測定。③恆星視差的測定。④光學參考架向暗星擴充等。CCD技術使天體測量工作在觀測精度、星等和效率方面得到了較大的飛躍。CCD測定的視差的精度達到了±1毫角秒,比照相方法提高了4倍。又如美國海軍天文台的CCD天體照相儀星表(簡稱UCAC)是1998年開始觀測的,2004年5月就發表了UCAC2星表覆蓋86%的天區,該星表包括了約4 800萬顆暗至16等源的位置和自行(見天體測量星表)。CCD觀測技術還可用於天體的位置和光度的同時測定。

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