AIDI (Artificial Intelligent Defect Inspection) 是由北京阿丘科技有限公司開發的一款基於深度學習的工業視覺 AI 平台,套用於多種工業套用場景,有效解決複雜缺陷的定位識別、分類定級及字元識別等問題,具有強大的兼容性。AIDI 內置多種套用模組,無需編程,幫助用戶快速構建和疊代模型,滿足不同業務場景下的差異化需求,助力產業智慧型化升級。
該工業AI視覺檢測軟體平台主要包括四大核心功能模組(定位、分割、檢測和分類)以及OCR字元識別工具包。
基本介紹
- 軟體名稱:AIDI
- 軟體平台:Windows,Linux
- 軟體語言:簡體中文
- 開發商:北京阿丘科技有限公司
- 軟體授權:北京阿丘科技有限公司
- 軟體版本:2.3
主要功能
- 定位:檢測圖像中的單個或多個目標的位置與角度,可以在目標多樣、姿態多樣等複雜場景中快速查找目標。常用於工件計數、裝配確認、有無判斷等場景;
- 分割:對圖像進行像素級檢測,精準識別缺陷的位置和類別。常用於檢測產品表面細小的缺陷,例如裂紋、劃傷等,是套用最為廣泛的缺陷檢測工具;
- 檢測:對圖像進行區域級檢測,準確識別目標物或缺陷。常用於產品表面成塊缺陷檢測、多目標檢測等場景;
- 分類:判斷整張圖像所屬類別,常用於缺陷分類和產品的分選定級等場景;
- OCR字元識別工具包:對圖像中的字元進行準確定位和高效識別。常用於快速讀取各類複雜場景中產品或元件的字元信息。
產品特點
- 檢測能力強:對形態、紋理海驗再等特徵提取能力強,可解決低對比度、缺陷種類眾多、背景複雜、缺陷尺度小等各類複雜檢測問題;
- 完備易用:集標註、訓練、模型調優為一體,圖像化設計支持零代碼構建工程,自由選擇核心AI功能,可滿足不同場景下的差異化檢測需詢符辯拔求;
- 硬體要求低:自研核心算法框架,在保證準確率的前提下,降低模型計算複雜度,並支持各種不同的硬體平台;
- 適配性強:適配主流作業系統 (Windows、Linux) 及常用工業視覺軟體,提供標準化接口,支持多種編程語虹臭故言,可靈活二次開發。
算法特點
- 計算速度快:設計高效輕量的網路結構,推理階段計算圖最佳化,在保證檢測指標的同時,提高訓練速度和推理速度,100張圖像訓練耗時約10min,單元只張圖像推理30ms以內;
- 檢測精度高:缺陷區域自動重採樣,提升小缺陷關注度,實現細小缺陷的精確檢測,最小可檢測尺寸低至3像素;夜榆辨
- 樣本依賴少:提供數據增廣工具和非監督模組,降低對缺陷樣本的依賴和部署成本,精確識別單類缺陷僅需 30-50張圖像完備易用;
- 支持3D檢測:支持3D格式圖像直接進行標註、訓練和推理。
所獲榮譽
套用領域
產品形態
AIDI推理版 | AIDI訓練版 | |
支持的作業系統 | Windows7及以上/Linux(ubuntu\centos\redhat) | |
支持的開發語言 | C++/c#/Java/Python等 | |
支持圖像格式 | PNG、BMP、TIFF等 | |
處理器背婆少 | Intel 13+ | Intel 17+ |
顯示卡 | NVIDIA GTX10系列1050+、NVIDIA RTX20系列2060+、NVIDIA RTX30系列、NVIDIA TItan系列等市面主流顯示卡均支持 |