320千伏X光計算斷層掃描原位測試儀是一種用於材料科學、土木建築工程領域的特種檢測儀器，於2017年10月11日啟用。
基本介紹
- 中文名：320千伏X光計算斷層掃描原位測試儀
- 產地：英國
- 學科領域：材料科學、土木建築工程
- 啟用日期：2017年10月11日
- 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機
技術指標,主要功能,
技術指標
最高解析度可達3微米； 可完成截面尺寸5-230毫米，長度最大為1米，最大質量為100公斤的樣品測試； 樣品台可實現五軸聯動； 超大空間防輻射鉛殼； 可選最能微焦點X光源，225kV與320kV。
主要功能
適合各種材料從巨觀到微觀試件的高精度內部結構表征，無損檢測，缺陷識別，破壞機理研究等。
