300kV高分辨透射電子顯微鏡

300kV高分辨透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：300kV高分辨透射電子顯微鏡
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2008年7月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

1.信息解析度極限：0.14nm，2.點解析度：0.20nm，3.線解析度：0.10nm，4.高分辨STEM解析度：0.17nm，5.樣品最大傾角：±40o。

主要功能

主要用於無機材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析，及各種材料微區化學成分的定性和定量檢測。廣泛套用於生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體、高分子、陶瓷、納米材料等。