高靈敏度螢光檢測系統

高靈敏度螢光檢測系統是一種用於藥學、材料科學領域的分析儀器，於2013年3月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：高靈敏度螢光檢測系統
• 產地：德國
• 學科領域：藥學、材料科學
• 啟用日期：2013年3月22日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1. DM5000 正置自動顯微鏡 DM5000顯微鏡 帶5為濾鏡座 光學 ICT 帶EL6000 20╳相差物鏡（PL 20╳/0.70 PH 2） 40╳共聚焦專用物鏡（HCX PL APO 40╳） 63╳共聚焦專用油鏡（HCX PL APO 63╳） 2. Leica LAS 圖像分析儀 多功能圖像分析平台 LAS圖像分析處理系統 機械台生物樣品夾系統 3. Leica 高靈敏度螢光檢測儀 SP高分辨掃描裝置 雙掃描檢測通道 檢測分光鏡 高靈敏度螢光檢測器 4. 氣體雷射器定位系統 氣體雷射器 red 10mW HeNe 633nm 氣體雷射器 blue 65mW multi-line argon（458、476、488、496、514nm） 基本光學檢測模組 HIVIS。

主要功能

1.獲取透射光、反射光及螢光圖像，能進行定性及定位分析及圖像處理 2.無損傷、連續光學切片，顯微“CT”及三維重組 3.連續攝像 4.光譜掃描。