《高電荷態Ar離子K殼層高階雙電子伴線研究》是依託中國工程物理研究院雷射聚變研究中心，由熊剛擔任項目負責人的青年科學基金項目。
基本介紹
- 中文名：高電荷態Ar離子K殼層高階雙電子伴線研究
- 項目類別：青年科學基金項目
- 項目負責人：熊剛
- 依託單位：中國工程物理研究院雷射聚變研究中心
項目摘要,結題摘要,
項目摘要
雙電子伴線在高能量密度和天體物理電漿狀態研究中扮演著重要的角色，尤其是在慣性約束聚變電漿精密診斷中，Ar離子高階雙電子伴線會同時改變共振線的形狀和強度，忽略這些伴線將會嚴重影響電子溫度和密度的診斷精度。然而，診斷模型中通常只考慮了低階(n=2,3)雙電子伴線的貢獻，對高階伴線及其對共振線影響的細緻研究工作非常少，這嚴重製約了診斷精密化水平的提高。本項目擬在電子束離子阱(EBIT)裝置上，通過細緻最佳化和精確控制電子束能量，採用高分辨光譜測量技術，開展類He和類H Ar離子K殼層高階雙電子伴線的細緻研究，獲取不同躍遷通道雙電子伴線光譜實驗數據和譜線位置、共振強度等相關原子參數信息，校驗理論模型，研究高階雙電子伴線對共振線強度和譜線形狀的影響。本研究將有助於進一步推進電漿狀態診斷的精密化，在高能量密度和天體物理等領域得到廣泛的套用。
結題摘要
在高能量密度和天體物理電漿中，示蹤元素X射線光譜是診斷電子溫度與密度的重要方法。雙電子伴線在該診斷中扮演著重要的角色，Ar離子高階雙電子伴線會同時改變共振線的形狀和強度，忽略這些伴線將會嚴重影響診斷精度。然而，在慣性約束聚變中，診斷模型中通常只考慮了低階(n=2,3)雙電子伴線的貢獻，對高階伴線細緻研究工作非常少，這嚴重製約了診斷精密化水平的提高。本項目在電子束離子阱(EBIT)裝置上，開展類Heb線的高階雙電子伴線（KMn，n=2-5）的實驗研究，獲取雙電子伴線實驗數據，並提取出共振強度等原子參數，為校驗理論模型、提高診斷精度提供了實驗依據。本研究將有助於進一步推進電漿狀態診斷的精密化，促進高能量密度和天體物理有等領域的發展。
