高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:高精度三維表面測量儀系統
- 產地:英國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2014年7月8日
高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。
“藍光式”掃瞄器是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
XJTUDP 三維光學攝影測量系統,採用數字近景工業攝影測量技術(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是攜帶型光學三坐標系統,用於測量物體表面的標誌點和特徵的精確三維坐標。用於對大型或超大型(幾米到幾十米)物體的關鍵點進行...
三維輪廓測量儀(工業三維掃瞄器)以藍光3D掃描條紋技術為基礎,在圖像採集的過程中,可有效過濾周圍環境光干擾,對於深色表面、反光表面,可提高3D掃描質量和精度,提升3D數據質量。系統自動監測技術 三維輪廓測量儀(工業三維掃瞄器)在工作...
三維網點測量儀由顯微系統、CCD攝像頭、測量觀察軟體、機械結構等部分構成。三維網點測量儀將網點圖像經顯微鏡放大後,通過CCD攝像頭獲得圖像,然後經計算機軟體處理、輸出,能及時而精確的反映網點狀態並加以分析。網點測量儀主要用於網點的...
在三維光學測量技術上,主要研究領域如下:光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量...
非接觸光學三維形貌測量系統是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2007年12月27日啟用。技術指標 垂直解析度1.0A。主要功能 該儀器具有超高解析度,超高精度能做各種固態樣品表面三維微觀形貌。有數字量輸出功能。
經緯儀測量系統(Theodolites)經緯儀測量系統是由二台以上的高精度電子經緯儀(如Leica的T3000,水平角和垂直角的測角精度皆為0.5")構成的空間角度前方交會測量系統,是在大尺寸測量領域套用最早和最多的一種系統,由電子經緯儀、基準...
多視圖三維測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2015年03月12日啟用。技術指標 3D-feed型全視角視覺三維測量系統自帶分析軟體進行條紋分析,單點解相位精度可達到0.05 rad,全視角三維測量精度整體達到0.03 mm/m。...
雷射三維掃描測量儀是一種用於地球科學、水利工程領域的物理性能測試儀器,於2012年4月20日啟用。技術指標 掃描半徑為300m。主要功能 高效率、高精度提供掃描物體表面的三維點雲數據,用於獲取高精度高解析度的數字地形模型。
4、 數據處理軟體系統(測量軟體);使用方法 三坐標測量儀簡稱CMM,自六十年代中期第一台三坐標測量儀問世以來,隨著計算機技術的進步以及電子控制系統、檢測技術的發展,為測量機向高精度、高速度方向發展提供了強有力的技術支持。CMM按...
三維測量可定義為“一種具有可作三個方向移動的探測器,可在三個相互垂直的導軌上移動,此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號,三個軸的位移測量系統 經數據處理器或計算機等計算出工件的各點坐標(X、Y、Z)及各項功能的測量”。
三坐標測量儀的測量功能應包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等 [1] 。 三坐標測量儀機型介紹 結構型式:三軸花崗岩、四面全環抱的德式活動橋式結構 傳動方式:直流伺服系統 + 預載荷高精度空氣軸承...
三維雷射密集點雲掃描系統是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點。基本介紹 與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛...