《高等學校試用教材--無機非金屬材料測試方法》是2005年武漢理工大學出版社出版的圖書，作者是楊南如。
基本介紹
- 中文名：高等學校試用教材--無機非金屬材料測試方法
- ISBN：ISBN 7-5629-0162-7
- 作者：楊南如
- 印刷日期：2005-11-12
基本信息,簡介,目錄,
基本信息
書名:高等學校試用教材--無機非金屬材料測試方法(重排本)
出版社:武漢理工大學出版社
定價:32.5
條形碼:9787562901624
出版日期:1990-8-1
精裝平裝_開本_頁數:平裝16開,364頁
中圖法:
中圖法一級分類:
中圖法二級分類:
書號:
簡介
內容提要
本書經高等學校無機非金屬材料類專業教材編審委員會審定為材料學專業本科教學用書。
本書總計七章。介紹X射線衍射分析、電子顯微分析、熱分析、振動光譜、光電子能譜、穆斯堡爾譜、色譜等各種測試方法的物理原理、儀器的功能和套用範圍，
本書除作為大學本科教材外，還可作為從事材料科學研究的科技人員、研究生的參考書。
前 言
本教材是根據國家建材局教材編審委員會通過的第二輪統編教材書目、物理化學編審組通過的教材大綱編寫的，全書經過試用、修改，最後定稿。
隨著科學技術的進步，越來越多的新的測試方法問世，並套用到無機非金屬材料深層次的研究，有力地促進了材料科學的發展和研究水平的深化，因此了解並學會套用這些測試方法，對於無機非金屬材料的科技工作者無疑是十分重要且有益的。然而有關這一領域，至今尚沒有一本適合於無機非金屬材料專業本科生的教材。第一輪統編教材《陶瓷研究方法》，光學顯微鏡內容多，新的測試方法闡釋不夠，且偏重於陶瓷，因此考慮編寫這本教材。
本教材在內容選擇時考慮以常用的方法為主，所以X射線衍射分析、電子顯微分析、熱譜分析、分子振動光譜所占的篇幅相對較大。在編寫時著重闡明各種方法的物理原理、儀器的主要結構、各種實驗方法，更突出介紹每種儀器的功能和套用範圍，使學生了解並能正確選用儀器，以獲得必要的信息。另外每章還列舉了測試方法在無機非金屬材料研究中的套用。
本書由南京化工學院楊南如主編，並負責編寫第四～七章；第一章由上海科學技術大學魏光普編；第二章和第三章分別由南京工學院凌志達和田雨霖編。各章分別請有關專家審閱，有上海冶金研究所許順生，東南大學范賡伸，南京大學吳梅生、夏元復，浙江大學王民權，武漢工業大學岳文海和南京化工學院李琪、孟憲顯、鐘白茜等研究員、教授。編者在再次修改後全書由清華大學張孝文教授(並對第一章先審)和南京大學李壽元教授(還初審第三章)主審。各專家對全書提出了許多寶貴意見，在此對他們表示感謝。同時南京化工學院傅國飛同志，武漢工業大學出版社曹文聰同志、徐揚同志和田道全同志為本書的出版和編輯給以眾多的幫助，在此一併表示謝意。
本書第一版於1990年問世後，各院校在使用過程中發現一些錯漏之處，現經改正補遺，暫作為修訂版出版，至於更多的內容上的增補、修改將在第二版中進行。
限於編者的水平和時間，尚有一些測試方法，如核磁共振、順磁共振、正電子湮沒技術等未及編入。這本書是一種嘗試，必定還存在缺點乃至錯誤，迫切希望得到廣大讀者的批評和指正。
編 者
1993．8
目錄
第一章 X射線衍射分析(1)
第一節 X射線物理基礎(2)
一、X射線的性質(2)
二、X射線的獲得(3)
三、X射線譜(5)
四、X射線與物質的相互作用(9)
五、X射線的吸收及其套用(11)
第二節 倒點陣(13)
一、倒點陣(倒格子)(13)
二、晶面間距和晶面夾角的計算(16)
三、晶帶(17)
第三節 X射線衍射幾何條件(19)
一、勞厄方程(20)
二、布喇格定律(21)
三、倒易空間與衍射條件(厄瓦爾德圖解)(23)
四、X射線衍射方法(25)
第四節 X射線衍射線束的強度(26)
一、單個電子的散射，偏振因子(27)
二、原子對X射線的散射，原子散射因子(28)
三、晶胞對X射線的散射，結構因子(29)
四、小晶體對X射線的衍射、干涉函式(32)
五、溫度因數(35)
六、重複因數(35)
七、角因數(35)
八、吸收因數(36)
第五節 單晶體的研究方法(36)
一、勞厄法(36)
二、轉動晶體法(轉晶法)(41)
三、魏森堡照才目法和旋進照才目法(42)
第六節 多晶體的研究方法(43)
一、粉末或多晶體衍射原理(43)
二、德拜法(44)
三、其他照相方法(47)
第七節 衍射儀法(50)
一、粉末衍射儀的構造及衍射幾何(50)
二、探測器(52)
三、記錄顯示系統(55)
四、衍射僅的調整與工作方式(56)
五、衍射線峰位確定方法(58)
六、衍射線積分強度測量(59)
七、重疊峰的分離(60)
八、四圓衍射儀(62)
第八節 X射線物相分析(63)
一、定性相分析(63)
二、定量相分析(70)
第九節 晶胞參數的測定(76)
一、粉晶衍射圖的標定方法(76)
二、系統誤差的來源和外推函式(83)
三、校正誤差的方法(87)
第十節 X射線衍射分析在其他方面的套用(90)
一、微晶尺度或嵌鑲塊大小的測定(91)
二、單晶取向的測定(92)
參考文獻(95)
第二章 電子顯微分析(96)
第一節 電子光學基礎(96)
一、光學顯微鏡的局限性(97)
二、電子的波性及其波長(97)
三、電子在電磁場中的運動和電子透鏡(99)
四、電磁透鏡的像差和理論分辨本領(105)
五、電磁透鏡的場深和焦深(107)
第二節 電子與固體物質的相互作用(108)
一、電子散射(109)
二、內層電子激發後的弛豫過程(111)
三、自由載流子(112)
四、各種電子信號(113)
五、相互作用體積與信號產生的深度和廣度(114)
第三節 透射電子顯微分析(116)
一、透射電子顯微鏡(116)
二、復型膜電子顯微像(121)
三、透射電鏡樣品製備方法(125)
四、電子衍射(129)
五、薄晶體電子顯微像(137)
六、高壓電子顯微鏡(144)
第四節 掃描電子顯微分析(145)
一、掃描電子顯微鏡(145)
二、掃描電鏡圖像及其襯度(151)
三、掃描電鏡試樣製備(156)
第五節 電子探針X射線顯微分析(158)
一、電子探針儀的構造和工作原理(158)
二、波譜儀和能譜儀比較(163)
三、分析方法及其套用(166)
第六節 分析電子顯微鏡(171)
第七節 電子顯微分析在無機非金屬材料科學中的套用(172)
一、粉末顆粒分析(172)
二、玻璃分相的觀察(174)
三、在陶瓷材料方面的套用(176)
四、在水泥和混凝土方面的套用(180)
參考文獻(184)
第三章 熱分析(185)
第一節 概述(185)
一、熱分析方法的起源與歷史(185)
二、熱分析的術語定義(186)
第二節 差熱分析(187)
一、差熱分析的基本原理(187)
二、差熱分析儀(188)
三、差熱分析方法(190)
四、差熱曲線的判讀及影響因素(191)
五、差熱分析在定量工作中的套用(198)
六、差熱分析技術的發展(202)
七、差熱分析的套用(206)
第三節 熱重分析(210)
一、熱重分析的基本原理(210)
二、熱重分析儀(210)
三、熱重分析的實驗方法(211)
四、熱重分析的套用(213)
第四節 熱膨脹法(216)
一、熱膨脹的基本原理(216)
二、熱膨脹儀(217)
三、熱膨脹儀的套用實例(217)
第五節 其他熱分析方法(220)
一、熱-力法(220)
二、熱釋電流法(221)
三、熱釋光法(221)
參考文獻(222)
第四章 振動光譜(223)
第一節 振動光譜的基本原理(223)
一、光與．分子的相互作用(223)
二、分子振動模型(224)
第二節 紅外光和紅外光譜(231)
一、紅外光(231)
二、紅外光譜法(232)
第三節 紅外分光光度計(236)
一、紅外分光光度計的結構原理(236)
二、紅外分光光度計的組成部件(237)
三、紅外分光光度計的操作性能及影響因素(241)
第四節 紅外光譜實驗技術(243)
一、制樣方法對紅外光譜圖質量的影響(243)
二、固體樣品的製備(244)
三、液體和氣體制樣法(245)
四、特殊紅外光譜分析技術(246)
第五節 雷射拉曼光譜(249)
一、基本原理(249)
二、儀器與實驗技術(251)
三、紅外光譜與拉曼光譜的比較(252)
第六節 振動光譜在材料研究中的套用(252)
一、無機化合物的基團振動頻率(252)
二、礦物的紅外光譜定性分析(261)
三、礦物紅外光譜的定量分析(263)
四、分子常數計算(265)
五、表面吸附性能(266)
六、測定矽鋁酸鹽中的矽鋁比(266)
七、紅外光譜法在矽酸鹽研究中的套用(266)
參考文獻(271)
第五章 光電子能譜分析(272)
第一節 概述(272)
一、表面分析可以得到的信息(272)
二、表面分析法的特點(273)
三、各種表面分析儀及其研究目的(274)
第二節 光電子能譜的基本原理(274)
一、光與物質的相互作用(274)
二、光電子能譜測量原理(277)
第三節 光電子能譜實驗技術(284)
一、光電子能譜儀(284)
二、樣品測定(287)
第四節 光電子能譜的套用(290)
一、化學分析(290)
二、固體表面相的研究(291)
三、化合物結構的鑑定(293)
第五節 俄歇電子能譜(294)
一、俄歇電子能譜的基本原理(294)
二、俄歇電子能譜的套用舉例(297)
參考文獻(298)
第六章 穆斯堡爾效應(299)
第一節 穆斯堡爾效應物理基礎(299)
一、原子核的放射性(299)
二、γ射線的共振吸收(301)
第二節 穆斯堡爾參數(305)
一、同質異能移(306)
二、四極分裂(307)
三、磁超精細相互作用--核的塞曼效應(308)
第三節 穆斯堡爾譜儀(310)
一、放射源(310)
二、驅動裝置(311)
三、探測器(312)
第四節 實驗方法(312)
一、穆斯堡爾譜的獲得(312)
二、數據處理(314)
第五節 套用範圍及示例(316)
一、鐵的氧化態(316)
二、鐵的配位數(318)
三、測定晶體中鐵離子的分布(318)
四、無機非金屬材料中的套用示例(319)
參考文獻(324)
第七章 色譜的套用(325)
第一節 各類色譜介紹(325)
一、概述(325)
二、氣相色譜法(326)
三、高壓液相色譜(337)
第二節 三甲基矽烷化技術(340)
一、三甲基矽烷化方法的基本原理(341)
二、實驗方法(342)
三、矽烷化反應生成物的測定(344)
第三節 色譜在矽酸鹽領域牛的套用(345)
一、矽酸鹽物質中SiO4四面體的聚合狀態 (346)
二、研究矽酸鹽水泥水化過程(346)
三、套用於研究玻璃的結構(349)
參考文獻(351)
附錄1 粉末法衍射線積分強度公式推導(352)
一、小晶體的積分強度(352)
二、粉末法衍射線積分強度(354)
三、試樣溫度及吸收的影響(355)
附錄2 元素的物理性質(356)
附錄3 K系標識譜線的波長、吸收限和激發電壓(358)
附錄4 元素的質量衰減係數(360)
附錄5 原子散射因子(362)
