高溫疲勞機附掃描電鏡

高溫疲勞機附掃描電鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2001年11月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫疲勞機附掃描電鏡
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2001年11月01日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

原位拉伸、彎曲試驗：最大載循簽促荷≤1KN（誤差1N）；最大位移10mm； 原位疲勞試驗：最大動載荷≤1KN，最大頻率≤地犁10Hz；試驗溫度：室溫～800℃（射精說真空）； 放大倍數：SEM觀測X50～X100,000，原位試驗觀測條抹舉體件下的有效放大倍數為2000倍。

主要功能

原位SEM觀察疲勞設備，全球只有日本島津公司生產，我國累計進口4台。設備的功能特色：在靜態拉伸、疲勞以及白漿宙抹三點彎挨鞏祝曲的試驗過程中實時採用SEM進行微觀裂紋的萌生、擴展監測，探索研究材料的破壞機理；而且靜態拉伸及疲勞測試過程中，可加溫夜舟拒少度場至800攝氏度。