高加速老化壽命試驗箱是一種用於交通運輸工程、電子與通信技術、機械工程、航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器,於2016年12月05日啟用。
基本介紹
- 中文名:高加速老化壽命試驗箱
- 產地:美國
- 學科領域:交通運輸工程、電子與通信技術、機械工程、航空、航天科學技術
- 啟用日期:2016年12月05日
- 所屬類別:物理性能測試儀器
高加速老化壽命試驗箱是一種用於交通運輸工程、電子與通信技術、機械工程、航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器,於2016年12月05日啟用。
高加速老化壽命試驗箱是一種用於交通運輸工程、電子與通信技術、機械工程、航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器,於2016年12月05日啟用。技術指標溫度極限-100℃-200℃,溫度變化率70-100℃/min振動極限...
HAST高度加速老化試驗箱目的是為了提高環境應力(如:溫度)與工作應力,加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。產品簡介 試驗目的是為了提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,隨著半導體可靠性的提高,大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不...
PCT老化箱(又名PCT高壓加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。產品簡介 PCT試驗是一種常用的可靠性測試方法,用於評估材料或組件...
高壓加速老化壽命試驗機,是一種標準壓力容器。產品用途 高壓加速老化壽命試驗機適用於國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、製藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明製品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用於在產品的設計階段,用於快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其...
負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,用於調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函式呈什麼樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗,廣泛用於IC半導體、連線器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗...
又名PCT老化試驗箱)用於測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,PCT用於國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、製藥、化工、多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等等行業相關之產品作加速老化壽命試驗,...
公司的主要產品包括:PCT高壓加速老化試驗機,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恆溫恆濕試驗箱、步入式恆溫恆濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱衝擊試驗箱、等均溫衝擊箱、鹽霧試驗箱、鹽乾濕複合鹽霧試驗機、老化試驗箱、乾燥箱、紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環境試驗設備以及製程設備,有數...