高分辨雷射光譜儀

高分辨雷射光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年1月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨雷射光譜儀
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2018年1月15日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 雷射光譜儀

技術指標

1、光譜範圍：50-9000cm-1； 2、焦長：800mm； 3、最低波數：10 cm-1； 4、光譜解析度：≤0.35 cm-1； 5、空間解析度：橫向1um，縱向2um。

主要功能

可精確、快速、重複地對半導體材料、 有機聚合物、碳材料等進行無損傷的定性分析。