高分辨穩態瞬態螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年10月18日啟用。
基本介紹
- 中文名：高分辨穩態瞬態螢光光譜儀
- 產地：英國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2017年10月18日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
a. 具有一個輸入狹縫，一個狹縫輸出和一個ccd輸出口 b. 焦距f≥500mm c. 雜光抑制比:2.6*10-5 d. 3塊光柵，1200g/mm,500nm blaze;600g/mm,500nmblaze;300g/mm,500nm blaze e. 光柵尺寸：68mm*68mm f. 光譜解析度：0.07nm@500nm g. 通光孔徑：f/6.5 h. 焦平面尺寸：28mm*14mm i. 電動狹縫，10um-2.5mm可調 j. 波長精度：0.04nm k. 波長重複精度：10pm iccd探測器 a. 總像素：1024*1024 b. 像元尺寸：13um*13um c. 有效探測面尺寸：13.3mm*13.3mm d. 最短光學門寬：2ns e. 採用第三代像增強器，口徑：18mm f. 探測波長範圍：280-810nm g. 峰值量子效率：40% h. 螢光屏類型：p43。
主要功能
實現螢光光譜測量，還可以實現螢光壽命測量，以及納秒到毫秒量級延遲螢光的測量，滿足對利用熱致延遲螢光實現高效oled設備的研究。
