馮建華，陝西渭南人，教授，博士，北京大學微電子學系SOC測試中心主任。計算機學會和電子學會高級會員，容錯專業委員會常委。
基本介紹
- 中文名：馮建華
- 國籍：中國
- 民族：漢
- 出生地：陝西渭南
- 出生日期：1964年
- 職業：教師
- 畢業院校：清華大學
- 學位/學歷：博士後
- 專業方向：微電子學
- 職務：北京大學微電子學系SOC測試中心主任
- 主要成就：“晶片硬體木馬安全檢測方法研究”以及“嵌入式模擬和混合信號核心的bist和dft研究”等
- 學術代表作：《混合信號積體電路測試與測量》
馮建華，陝西渭南人，教授，博士，北京大學微電子學系SOC測試中心主任。計算機學會和電子學會高級會員，容錯專業委員會常委。
1982年畢業瑞泉中學，1986年畢業於哈爾濱工業大學半導體物理與器件專業獲學士學位，1995年在西安電子科技大學微電子學專業獲碩士學位，2000年在西安微電子技術研究所獲博士學位，2000年至2002年清華大學做博士後。
研究方向為數字、模擬和混合信號電路測試和可測試性設計。
先後主持國家自然科學基金面上項目“晶片硬體木馬安全檢測方法研究”以及“嵌入式模擬和混合信號核心的bist和dft研究”等3項，國家預研課題4項，講授《VLSI測試和可測試性設計》課程。發表論文30餘篇，專利4項。目前承擔的主要科研項目：1.基於嵌入式核心SOC系統晶片測試方法研究；2.嵌入式模擬和混合信號核心的BIST和DFT研究；3.現場可程式門陣列器件測性技術；4.混合電路BIST和噪聲測試研究；5.CMOS電路IDDQ測試矢量生成技術。
合作出版《超大規模積體電路—測試數字、存儲器和混合信號系統》和《現代積體電路測試技術》等著作3部，其中《現代積體電路測試技術》獲省部級優秀圖書一等獎。馮建華等2009年曾翻譯（美）伯恩斯、（美）羅伯茨著的《混合信號積體電路測試與測量》一書由電子工業出版社做為“國外電子與通信教材系列”叢書之一出版。
馮建華等的“基於ATE的EPGA自動測試方法研究”獲2011年“北京大學第六屆實驗技術成果獎”三等獎。
