顆粒形態表征系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2010年12月27日啟用。
基本介紹
- 中文名：顆粒形態表征系統
- 產地：日本
- 學科領域：化學、材料科學
- 啟用日期：2010年12月27日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀
技術指標,主要功能,
技術指標
1．採用靜態法分析顆粒粒度和粒形分布； 2．顆粒大小範圍0.6至2000μm； 3．形狀測量：為每個顆粒計算多個粒形參數，並根據各個參數生成分布。可給出圓當量直徑、長度、寬度、周長、面積、長徑比、圓度、凸起度、實積度，其中長徑比指長度除以寬度、凸起度指凸包圍的周長除以實際周長、實積度指實際面積除以凸包圍的面積； 4．採用數據處理軟體可實現測量顆粒的排序、過濾和分類，必須能夠以凸起度和實積度為參數對樣品進行過濾，並對過濾後的數據以長徑比為參數生成分布； 5．分散單元：具備乾法樣品分散單元，採用軟體控制分散壓力、噴射時間和沉澱時間，使樣品得到良好的自動分散，並能對顆粒的取向性進行控制； 6．樣品控制台坐標值由一個步進馬達控制，可實現平穩、無反衝的運動，且無需維護，精確定位鏡台，重複性不低於±2μm； 7．光學鏡頭自動旋轉功能：可自動實現放大倍率的自動改變及無縫的光學測量； 8．配備數位照相機，確保可捕獲到小顆粒的形貌； 9．每一個測量顆粒數據均包括對應的坐標值，測量完成後可返回到任何一顆粒再次分析； 10．可自定義不同參數的結合，如圓度分布，直徑分布及二者對應的散點圖。
主要功能
可為每個顆粒計算多個粒形參數，並根據各個參數生成分布。可給出圓當量直徑、長度、寬度、周長、面積、長徑比、圓度、凸起度、實積度。可測量顆粒的排序、過濾和分類，能夠以端點數等指標對樣品進行過濾，並對過濾後的數據生成分布，消除了未分散好的樣品對測量結果的影響。
