基本介紹
- 中文名：顆粒度ZETA電位電阻測試儀
- 產地：英國
- 學科領域：工程與技術科學基礎學科、材料科學
- 啟用日期：2009年1月1日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器
- 技術指標：粒度測量範圍：0.3nm～10μm、分子量測定範圍342～2×107Da、粒徑測量範圍：0.6～6000nm
- 主要功能：對各種納米懸浮液、乳液、粉末等樣品進行檢測和分析
技術指標,主要功能,
技術指標
粒度測量範圍：0.3nm～10μm,分子量測定範圍342～2×107Da,粒徑測量範圍：0.6～6000nm;確保最寬的樣品濃度範圍：0.00001vol%（0.1ppm）～40%w/v；電位測量粒徑範圍：0.6納米-30微米;Zeta電位測量的濃度範圍：0.001 % ~ 40 %;電導率測定範圍：0 to 200mS/cm；電勢：-100 mV ~ 100 mV;遷移率測定範圍: Nominally +/- 10 mcm/Vs;雷射光源：He-Ne雷射器4.0mW，633nm，分光光路測量;溫度範圍：2oC to 90oC，可自動測量粒度隨溫度變化的趨勢圖;測量樣品的PH值範圍：1~13;探針電阻率附屬檔案;電阻率：10-4－105 Ω.cm；電導率：10-5－104 s/cm,方塊電阻：10-3－106 Ω/□(可擴展);可測晶片直徑:140mmX150mm（配 S-2A型 測試台）;Φ200mm（配 S-2B型 測試台）和400mmX500mm（配 S-2C型 測試台）。
主要功能
可對各種納米懸浮液、乳液、粉末等樣品進行檢測和分析。通過對樣品的體積百分比及數量百分比的測量，從而判斷該樣品的相關特性，從而進行研究。適合材料、醫藥、環保、質檢、機械、石化、農林等各種科學領域的研究、用途。
