韋恩幼稚園測試

韋恩幼稚園測試

韋恩幼稚園測試(Vane Kindergarten Test)是用於早期識別有潛在學習困難的兒童的智力測試。

基本介紹

  • 中文名:韋恩幼稚園測試
  • 外文名:Vane Kindergarten Test
編制,結構,目的,缺陷,

編制

霍夫斯特拉大學的Vane, Julia R.在1968年發表在《Journal of Clinical Psychology》上的《The Vane Kindergarten Test》中講述了韋恩幼稚園測試的編制過程和施測目的。

結構

韋恩幼稚園測試包括三個分測驗,包括動機,注意力,知覺動作技能或不確定的行為。

目的

如果有潛在學習困難的孩子在很小的時候就能被識別出來,他們就可以被安置在適當的發展或治療項目中,這將有助於防止在以後的成績中出現一些嚴重的問題和學術上的失敗。韋恩幼稚園測試的目的就是在幼兒期識別有學習困難的兒童。

缺陷

SM Powers(1974)檢驗了韋恩幼稚園測試(VKT)和斯坦福成就測驗(Stanford Achievement Test)、都市準備測驗(Metropolitan Readiness Tests)的相關程度,結果證明都是顯著相關的(p < 0.01)。然而雖然本研究中獲得的大多數相關性是顯著的,但VKT似乎針對個別兒童的評估和計畫沒有足夠高的效度。另外他還在1977年檢驗了VKT的信度,從測試分數分析得出結論:VKT對學習障礙早期檢測的作用有限,它的信度較低,不允許個體間太大差異的出現。VKT預測問題行為的能力也是相當有限的,隨著時間的推移分數也不穩定。

熱門詞條

聯絡我們