霍爾效應測試系統

霍爾效應測試系統是一種用於材料科學、信息科學與系統科學領域的儀器，於2013年03月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：霍爾效應測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學、信息科學與系統科學
• 啟用日期：2013年03月25日

技術指標

磁場1.3T，溫度循捉束：15-350K， 可測才提滲煮電阻：棵定估10毫歐-10M歐姆，可測載流子濃度：1E6-1E19cm-3.。驗槓雅

主要功能

15k-350K可變溫，主要用於測試試樣兆漿虹慨的霍爾係數淚套拔堡微和電阻率。