電阻率剖面

resistivity profiling 簡稱“電剖面”，是指A、M、N、B電極距保持不變，同時沿—定剖面方向逐點觀測視電阻率(ρs)，研究剖面方向地下一定深度的岩、礦石電阻率變化的一組方法。它主要用來探測陡立產狀的地質體或構造(如陡立產狀的金屬礦體、岩層界限、斷裂帶等)。

簡介

resistivity profiling 簡稱“電剖面”。是指A、M、N、B電極距保持不變，同時沿—定剖面方向逐點觀測視電阻率(ρs)，研究剖面方向地下一定深度的岩、礦石電阻率變化的一組方法。它主要用來探測陡立產狀的地質體或構造(如陡立產狀的金屬礦體、岩層界限、斷裂帶等)。

分類

根據電極排列方式不同，又可分為對稱剖面法、聯合剖面法、偶極剖面法等。中間梯度法也屬於剖面法類。