電子顯微分析實用方法

內容簡介

《電子顯微分析實用方法》立足於實驗教學和技術培訓，著重電子顯微技術在分析材料中的套用。主要內容包括透射電鏡與掃描電鏡的圖像襯度原理與觀察，選區電子衍射、會聚束衍射和背散射衍射技術及套用，×射線能譜分析原理與實驗方法以及試樣製備技術。

為順應我國的標準化潮流，《電子顯微分析實用方法》將多項國際標準和國家標準與相關分析方法相結合，力圖把標準化意識貫徹到教學中。

《電子顯微分析實用方法》是實驗實踐類教材，適用於材料類專業本科生和研究生的實驗性教學，也可供教師與技術人員參考，還可作為微束分析領域國家標準宣貫的參考資料。

圖書目錄

第1章透射電子顯微鏡的基本結構和操作

1．1 電磁透鏡的基本原理

1．2 透鏡的像差

1．2．1 球差

1．2．2 色差

1．2．3 像散

1．2．4 衍射差

1．3 顯微鏡的解析度

1．3．1 顯微鏡的極限解析度

1．3．2 實際解析度

1．4 透射電鏡的基本結構

1．4．1 照明系統

1．4．2 成像系統

1．4．3 試樣台

1．4．4 照相記錄系統

1．5 透射電鏡的主要工作模式

1．5．1 放大成像模式

1．5．2 電子衍射模式

1．5．3 明場像和暗場像

1．5．4 點陣像（晶格像）

1．6 實驗內容

1．7 透射電鏡的各功能鍵以及合軸調整技巧

1．7．1 JEOLJEM-2010透射電鏡主要功能鈕簡介

1．7．2 JEOLJEM-2010透射電鏡的合軸調整

1．7．3 TecnaiG2F-20或F-30透射電鏡主要功能鈕簡介

1．7．4 TecnaiG2F-20或F-30透射電鏡的合軸調整

練習題

參考文獻

第2章透射電鏡放大像的觀察與記錄

2．1 透射電子顯微像的襯度

2．1．1 襯度的概念

2．1．2 復型試樣和非晶試樣的放大像觀察與記錄

2．1．3 晶體試樣衍襯像的觀察與記錄

2．1．4 晶體缺陷衍襯像簡介

2．2 TEM的高分辨像觀察與記錄

2．2．1 晶格像的原理

2．2．2 晶格像的觀察

2．3 TEM高分辨像的傅立葉變換

2．3．1 傅立葉變換簡介

2．3．2 TEM高分辨像的傅立葉變換

2．3．3 環形濾波工具在傅立葉變換中的套用

2．3．4 孿生濾波在傅立葉變換中的作用

2．4 薄膜試樣厚度的測定

2．4．1 消光輪廓法

2．4．2 跡線法

2．4．3 污染斑點法

練習題

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基本介紹

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