雷射顆粒動態分析儀是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2000年8月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:雷射顆粒動態分析儀
- 產地:丹麥
- 學科領域:能源科學技術
- 啟用日期:2000年8月1日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀
雷射顆粒動態分析儀是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2000年8月1日啟用。
雷射顆粒動態分析儀是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2000年8月1日啟用。技術指標三維顆粒相運動,速度測量範圍0-250米/秒,粒徑測量範圍0.5-500微米。1主要功能用於兩相及多相流場、反應流場內的主...
雷射粒度分析儀,測量分析物理顆粒豐度的儀器,依據分散系統分為濕法測試儀器,乾法測試儀器,乾濕一體測試儀器。其原理是光在傳播中,波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制,以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射...
雷射顆粒儀是根據顆粒能使雷射產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由於雷射具有很好的單色性和極強的方向性,所以一束平行的雷射在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠的地方,並且在傳播過程中很少有發散的現象。原理 當光束遇到顆粒...
雷射顆粒分析儀 雷射顆粒分析儀是一種用於農學領域的分析儀器,於2008年12月31日啟用。技術指標 DUKE(9.0UM):RESID%=0.75%,OBSC%=13.00%。主要功能 用於固體樣品顆粒大小的測定。
LBT-BT2003雷射粒度分析儀 性能指標 測試範圍:0.04μm-1000μm 進樣方式:外置自動循環分散系統 重複性誤差:準確性誤差:測量原理:米氏散射理論 雷射光源:進口光纖半導體雷射器 軟體運行環境:WinXP/Win7 接口方式:USB或RS232 光電...
Winner2000ZD系列智慧型型濕法台式雷射粒度分析儀是濟南微納顆粒技術有限公司最新推出的全自動智慧型型產品。精心設計的全方位散射光探測系統,配合高靈敏度的環式光電探測器進一步提高測試精度。☆產品簡介 先進的內置式循環分散系統,徹底解決了...
Rise-2008型雷射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。顆粒測試的數據計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演...
小顆粒布朗運動速度快,大顆粒布朗運動速度慢,雷射照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點,從而保證了測試...
Winner2008D雷射粒度分析儀是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。產品簡介 它秉承了前期產品Winner2005雷射粒度儀的測試優勢和Winner2000ZD雷射粒度儀智慧型化的操作優勢,並融入了新...
該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術,拓寬了其測試範圍,使具有強大的普遍適用性,雙光束專利技術則保證了微小顆粒測試精度,可以滿足不同行業對...
4.適用範圍更寬廣:不受顆粒物理、化學性質的限制,除了一般的粉狀顆粒均可用於雷射粒度儀測試外,還具有濕法所沒有的獨特優勢,不僅適用於在液體中發生形狀變化、發生化學反應或損失其成分的顆粒,還適用於磁性顆粒。
Winner2308雷射粒度分析儀是一款分析儀。產品簡介 Winner2308雷射粒度分析儀是我公司精心打造的一款全量程,乾濕一體的智慧型型雷射粒度分析儀,它是一款真正意義上的乾、濕一體的雷射粒度分析儀,是顆粒種類較多且顆粒分布較寬的工業粉末工業...
高端雷射粒度分析儀是一種用於農學領域的分析儀器,於2016年7月13日啟用。技術指標 技術參數與性能指標 1測試範圍:0.01-3500微米。 2測量速度:掃描速度10000次/秒,掃描次數用戶可調;30秒完成光路校正、數據採集與處理、報告生成等全部...
3.Winner納米雷射粒度分析儀採用公司自主研發的CR-128數字相關器。眾所周知,現在國內的雷射粒度儀企業,全部採用的是“靜態光散射理論”,此理論測試的有效下限只能達到50納米,對於更小的顆粒則無能為力。納米顆粒測試必須採用“動態光...
Rise系列雷射粒度分析儀、全自動比表面積及孔隙度分析儀、顆粒圖像分析儀、粉塵形貌分散度測試儀適用於各種粉體、懸浮液、乳濁液、材料、催化劑等行業已經得到了廣泛的套用。濟南潤之科技有限公司位於濟南市高新技術產業開發區,從事光、機...
土壤雷射粒度分析儀 土壤雷射粒度分析儀是一種用於土木建築工程領域的分析儀器,於2011年11月30日啟用。技術指標 粒徑測試範圍0.5—875微米。主要功能 固體樣品顆粒組成分析。
雷射粒度分布分析儀 雷射粒度分布分析儀是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年7月5日啟用。技術指標 納米級到微米級。主要功能 測試顆粒大小。
◆Winner100 粒度測試的準確度重複性可以與雷射粒度分析相比,測試範圍卻遠遠大於雷射粒度儀;◆Winner100 採用了功能強大的軟體不僅可以高速採集圖像、即時顯示顆粒形貌、自動分析顆粒粒度與形態,實現離焦補償,而且可以記錄全過程數據供分析...
粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、雷射粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。分類介紹 雷射粒度儀 採用MIE散射原理的雷射粒度儀,假設被...