雷射燒蝕電漿質譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2015年11月26日啟用。
雷射等離子質譜儀 雷射等離子質譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年11月21日啟用。技術指標 固體取樣，0.001~5000 PPm元素含量或同位素含量同時測定。主要功能 水礦物中微量元素分析,同位素分析。
全自動雷射燒蝕進樣系統是一種用於地球科學領域的雷射器，於2016年12月27日啟用。技術指標 與高分辨電漿質譜儀或者多接收器電漿質譜儀聯用，進行單礦物微區原位微量元素、U-Pb、Lu-Hf、Sm-Nd、Rb-Sr及其它同位素測試。主要...
Make your analysis easy. High-Resolution ICP-MS is —可採集100,000個數據點，(比目前市場上任何其他的ICP-MS速度快10倍以上)，這個採集速率對於要求快速的瞬時數據採集分析套用 是非常理想的，如納米顆粒表征、形態分析和雷射燒蝕聯...
多接收電漿質譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2014年6月1日啟用。技術指標 1. 解析度： 傳統解析度(10%的峰寬定義)：低解析度400； 中解析度3000(在多接收器同位素模式下的平頂) 平台高解析度；高解析度Redge(5,...
電漿質譜聯用儀是一種用於化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2017年9月6日啟用。技術指標 （1）掃描元素質量數範圍從4到260 amu； （2） 測量檢出限：Be≤30 ng/L；In≤10 ng/L； Bi≤10 ng/L。 （3）...
燒蝕斑點：4μm-160μm； 7. 光斑能量的不均勻性：±3.5% (2 sigma)。主要功能 對固體樣品表面進行微小尺度（微米級）的雷射燒蝕，燒蝕出的氣溶膠通過載氣運送到電感耦合電漿質譜儀進行檢測，是一種固體樣品剝蝕進樣系統。
多接收等離子質譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2007年7月1日啟用。技術指標 1. 解析度: 450 (平頂峰, 10%峰谷定義) 3000 (平頂峰或5000三角) 2. 質量範圍: 4-310amu (10KV加速電壓)。主要功能 微...
具有高靈敏度、高解析度、高精度、高準確度的特點。主要功能 主要用於固體和水溶液中同位素組成和微量元素高精度分析；和雷射剝蝕系統、四極桿等離子質譜儀聯用，主要用於鋯石原位U-Pb定年以及礦物微區微量元素分析和Hf同位素同時測定。
準分子雷射燒蝕系統利用準分子雷射器輸出的高的光子能量及高能量密度，對固體樣品的表面進行剝蝕，即當雷射照射到固體樣品時，使固體樣品的表面物質瞬間被氣化。氣化後的物質通過載氣被輸送到與之連線的檢測儀器，如電感耦合電漿質譜儀等...
ICP質譜儀是一種用於化學、生物學領域的分析儀器，於2017年4月10日啟用。技術指標 質量數範圍：5-260 amu碰撞池：八極桿碰撞池，使用的氣體：氦氣，0-10 mL/min檢測器：通道檢測器真空系統：3階差分泵檢測器：9個數量級動態範圍。...
