雷射掃面共聚焦顯微鏡

雷射掃面共聚焦顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年4月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射掃面共聚焦顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年4月14日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡

技術指標

Leica SP8。

主要功能

快速三維成像。