雷射力顯微鏡

使微懸臂處在強迫振動狀態，當微懸臂的針尖感受外力或力的梯度時，其振動振幅或位相將發生變化。懸臂振幅用雷射測出，並將測出的變化反饋到支承樣品的壓電陶瓷的z向電極，使探針的振幅保持不變。

基本介紹

• 中文名：雷射力顯微鏡
• 外文名：laser force microscope(LFM)
• 學科：岩礦分析與鑑定
• 優點：具有較高的靈敏度

這樣，當支承樣品的壓電陶瓷在x、y方向作光柵掃描時，就可以在恆定表面力（遠程力）下得到樣品表面起伏圖。