雷射光熱偏轉光譜法

基本介紹

• 中文名：雷射光熱偏轉光譜法

雷射光熱偏轉光譜法：是基於20世紀80年代發現的光熱偏轉效應而建的一種光熱光譜技術。所依據原理是待測物質的光熱效應引起的介質折射指數的變化，探測折射率的變化梯度進行分析二是高靈敏、非破壞性檢測微弱吸收的手段之一，檢測限可達1 .0 X lU }' ma1}L;與色譜技術聯用，檢測限司近P}級。共檢測方式分為共線式和橫向式;光學構型有腔內調諧和腔外調諧兩種，一般前者的靈敏度高於後者。為提高靈敏度，許多光學技術如阿達馬變換、時間分辨技術等已被套用到雷射光熱偏轉光譜中。