雷射光束質量度量

內容簡介

《雷射光束質量度量》是作者長期從事雷射光束質量度量與評價實踐的經驗總結，系統介紹了M2、桶中功率、亮度、光束參數乘積和Strehl比等不同標準光束質量度量方法的定義和內涵，並重點針對如何搭建自己的M2測量設備、如何設計光束質量指標、光束質量指標的相互轉換等內容進行了深入剖析，提出了雷射光束質量度量的注意事項，對於相關人員理解和掌握雷射光束質量分析和需求綜合具有很大參考作用。

譯者對該書進行了精細翻譯，希望能夠幫助更多相關人員進一步理解雷射光束質量度量與評價的相關問題，從而進一步推動我國雷射武器技術的發展。

《雷射光束質量度量》可供從事雷射武器技術、雷射光束質量度量等相關技術領域的研究、設計和套用人員使用，也可供高等院校有關專業的師生閱讀，還可供相關部門的決策人員和管理人員參考。

圖書目錄

譯者序

序言

致謝

符號與縮略語

第1章緒論

1．1 雷射光束質量測量的首要準則

1．2 雷射光束質量研究的歷史、資源和現狀

1．3 雷射器結構

1．4 雷射輻射的基本性質

1．5 雷射模式與模式分析

1．6 光束中心的一般測量方法

1．7 光束半徑和發散角的一般測量方法

1．8 光束質量衰減的常見誘因

1．9 常見光束質量測量方法

第2章如何搭建M2測量設備

2．1 購買商用光束質量分析儀的準備事項

2．2 相關資源

2．3 儀器設備

2．4 暗電流噪聲及調零

2．5 數據視窗

2．6 曲線擬合

2．7 M2測量結果的誤差估計

2．8 刀口法

2．9 關於M2的結論

第3章如何設計光束質量指標

3．1 概述：綜合、分析和比較

3．2 需求綜合

3．3 規範分析

3．4 對比性光束質量指標

3．5 示例：與VPIB相關的一般規範

3．6 示例：需求區域

3．7 示例：系統光束質量指標

3．8 示例：核心及基座指標

第4章光束質量指標間的轉換

4．1 高斯光束質量轉換

4．2 一般光束質量轉換

第5章光束陣列

5．1 光束質量衰減的原因

5．2 針對光束陣列套用調整光束質量指標

5．3 假想實驗：發光單元損失

第6章注意事項

6．1 描述高斯光束傳播的三種視角

6．2 非高斯高斯光束

6．3 截斷對高斯光束質量的影響

6．4 案例研究

雷射光束質量度量

基本介紹

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