離子電子動量成像系統

離子電子動量成像系統是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的科學儀器，於2015年5月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：離子電子動量成像系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、化學、生物學、材料科學
• 啟用日期：2015年5月25日

技術指標

探測器系統由DLD80和HEX75組成，DLD80和HEX75均由MCP結合高分辨位置靈敏探測器組成，HEX75適合於電子的測量，探測器的位置解析度可達120微米半高寬，時間解析度位於220-350皮秒半高寬，可以實現帶電粒子4π立體角的測量。套用這兩個探測器能夠對同一束雷射產生的三個離子和兩個電子進行同時測量，連續探測兩個粒子的死亡時間最短可達5納秒。超高真空腔體的內徑大於250mm，長度650mm，是利用特殊鋼材（316lns）加工，進行了去磁化、淬火劑拋光處理，並經過了特殊處理來降低氫氣泄露對真空的影響，在合適的泵浦系統工作下可以真空牆體達到10-11mbar的真空度。電子學設備包括ATR19-8，TDC8HP，FAMP8等重要元件，主要可以實現電子學信號的高頻放大與遴選，信息存儲等功能，與離子和電子動量成像系統配套使用，可以實現快於100皮秒的時間解析度，在 /-200微秒的範圍內採集數據，實現多粒子測量，普通觸發和截止控制，並負責與數據採集軟體系統CoboldPC的對接以及提供通用的數據處理程式。

主要功能

此系統將主要用於研究原子和分子體系在超快強雷射場中的隧穿電離過程，同時測量離子和電子的動量可以實現對分子坐標系下光電子角分布的測量，能夠對角度依賴的隧穿電離過程及其機制進行探索。此設備也具有對電子成像的功能，可以對分子的閾上電離光電子的角分布特徵進行測量，分析分子在強場中的非線性過程。另外，此設備對於研究生教學也有重要的作用。此系統能對離子和電子分別進行三維動量測量，可以實驗上重現許多經典的物理過程，推動研究生實驗教學的進步。