| 中文名稱 | 離子溝道背散射譜法 |
| 英文名稱 | ion channeling backscattering spectrometry |
| 定 義 | 盧瑟福背散射與離子溝道效應相結合，對單晶樣品近表面層的結構或摻雜原子的占位進行分析的方法。用於研究晶體表面結構，測定晶格損傷，確定雜質原子在晶格中的位置等。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 離子溝道背散射譜法 |
| 英文名稱 | ion channeling backscattering spectrometry |
| 定 義 | 盧瑟福背散射與離子溝道效應相結合，對單晶樣品近表面層的結構或摻雜原子的占位進行分析的方法。用於研究晶體表面結構，測定晶格損傷，確定雜質原子在晶格中的位置等。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |