雙光束雷射掃描平面度儀是由清華大學精密儀器系完成的科技成果，登記於1993年10月31日。
基本介紹
- 中文名：雙光束雷射掃描平面度儀
- 完成單位：清華大學精密儀器系
- 類別：科技成果
- 登記時間：1993年10月31日
成果信息
成果名稱 | 雙光束雷射掃描平面度儀 |
成果完成單位 | 清華大學精密儀器系 |
批准登記單位 | 北京市科學技術委員會 |
登記日期 | 1993-10-31 |
成果登記年份 | 1993 |
雙光束雷射掃描平面度儀是由清華大學精密儀器系完成的科技成果，登記於1993年10月31日。
成果名稱 | 雙光束雷射掃描平面度儀 |
成果完成單位 | 清華大學精密儀器系 |
批准登記單位 | 北京市科學技術委員會 |
登記日期 | 1993-10-31 |
成果登記年份 | 1993 |
雙光束雷射掃描平面度儀是由清華大學精密儀器系完成的科技成果，登記於1993年10月31日。成果信息成果名稱雙光束雷射掃描平面度儀成果完成單位清華大學精密儀器系批准登記單位北京市科學技術委員會登記日期1993-10-31成...
雙光束雷射掃描平面度儀 雙光束雷射掃描平面度儀是由清華大學精密儀器系完成的科技成果，登記於1993年10月31日。成果信息
雷射雙光束平面度測量儀（簡稱平面度儀）用於檢測低、中、高壓汽缸中分面的平面度。工件對角線為6～8m。為防漏氣，要求測量精度優於0.02m/結合面全面積。此儀器採用將一條光束分為上下兩束光，取兩束光讀數的平均值作為平面度誤差。此成果已經移交給哈爾濱汽輪機廠現場使用。鑑定為國際先進。雷射光纖大孔同軸度...
1.5.2雷射產生的必要元素42 1.5.3雷射的工作特性44 1.5.4雷射特性45 1.5.5雷射系統48 參考文獻49 參考網頁53 第2章透鏡，稜鏡和平面鏡54 2.1引言54 2.2波前和波前像差54 2.3初級像差和設計出發點54 2.4光學設計55 2.5光學設計工具55 2.6光學設計理論55 2.7初級像差56 2.8薄透鏡塞德爾像差...