開短路測試

開短路測試（又稱OPEN/SHORT 測試，O/S測試），主要是用於測試電子器件的連線情況。

JY-3128邦定/IC開短路測試儀

名詞解釋

開短路測試（又稱OPEN/SHORT 測試，O/S測試），主要是用於測試電子器件的連線情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，具體點說就是測試一個電子器件應該連線的地方是否連線，如果沒有連線上就是開路，如果不應該連線的地方連線了就是短路。

用途

開短路測試套用非常的廣泛，例如：測試PCB板，測試IC邦定線，測試IC的封裝，測試線材，測試FPC，測試薄膜開關，測試連線器等等，不同的套用又有比較特別的需求，例如，測試PCB板是不僅要測試開短路，還要測試漏電，測薄膜開關還要測試連線的電阻值；對於線材測試儀，比較精密的線材根據要求，有些也要測試漏電與阻值及其他的要求，由於這些測試不僅要測試開短路，還要測試其他的參數，因此都有專用的儀器，如ICT，薄膜開關測試儀，線材測試儀等。

詞意變化

如果沒有特別的指出，所謂的開短路測試，都是指測試邦定線的開短路測試，IC的開短路測試，例如“開短路測試儀”指的就是測試邦定/IC開短路的儀器，當然所處的行業不同，在不同的行業中，說開短路測試就是指的這個行業的產品的開短路測試，如果是一間PCB廠，說要進行開短路測試，指的就是測試PCB的線路的開短路，不能理解成測試測試IC的開短路了！