閉環低溫恆溫器是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2017年12月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:閉環低溫恆溫器
- 產地:德國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2017年12月23日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
- 最低溫度:4K
- 標準樣品托:20*20mm
技術指標,主要功能,
技術指標
最低溫度:4K,可支持光學和電學插桿的接入。
主要功能
為低溫光學顯微,電輸運和AFM等測量模式提供低溫腔。
閉環低溫恆溫器是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2017年12月23日啟用。
閉環低溫恆溫器是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2017年12月23日啟用。技術指標最低溫度:4K,可支持光學和電學插桿的接入。主要功能為低溫光學顯微,電輸運和AFM等測量模式提供低溫腔。1...
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閉環低溫恆溫器 閉環低溫恆溫器是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2017年12月23日啟用。技術指標 最低溫度:4K,可支持光學和電學插桿的接入。主要功能 為低溫光學顯微,電輸運和AFM等測量模式提供低溫腔。
紅外熱成像製冷技術,是為使熱成像系統正常工作,將其探測器元件冷卻至低溫或深低溫的技術,又稱低溫恆溫器技術。該技術的主要任務有二點:一是通過製冷形成一個合適的低溫恆溫環境,以保證需要在低溫下工作的電子器件或系統功能正常,或提高器件的靈敏度;二是禁止或減小來自熱成像系統的濾光片、擋板及光學系統本身等...
為使熱成像系統正常工作,將其探測器元件冷卻至低溫或深低溫的技術,又稱低溫恆溫器技術。該技術的主要任務有二點:一是通過製冷形成一個合適的低溫恆溫環境,以保證需要在低溫下工作的電子器件或系統功能正常,或提高器件的靈敏度;二是禁止或減小來自熱成像系統的濾光片、擋板及光學系統本身等帶來的熱噪聲。製冷器...