由器件的局部起伏（如光電陰極表面的局部不均）引起發射電子的緩慢隨機起伏，這種變化通常出現在較低的頻率上（頻率上限約500赫），此種噪聲稱閃爍噪聲（Flicker noise）。
在低頻下，閃爍噪聲可比散粒噪聲大好幾倍，但可以通過提高工作頻帶，避開低頻段以及仔細製作光電子器件等方法來減少影響。
基本介紹
- 中文名：閃爍噪聲
- 外文名：Flicker noise
- 定 義：低頻段的主要噪聲源
- 套用學科：通信術語，光電子技術
閃爍噪聲的概念,閃爍噪聲的原理,
閃爍噪聲的概念
由器件的局部起伏（如光電陰極表面的局部不均）引起發射電子的緩慢隨機起伏，這種變化通常出現在較低的頻率上（頻率上限約500赫），此種噪聲稱閃爍噪聲（Flicker noise）。
在低頻下，閃爍噪聲可比散粒噪聲大好幾倍，但可以通過提高工作頻帶，避開低頻段以及仔細製作光電子器件等方法來減少影響。
由於閃爍噪聲強度比例於
，故稱“紅”噪聲，是低頻段的主要噪聲源。
閃爍噪聲的原理
與有用光電信號相伴隨的噪聲來源於兩方面，一類起源於側兩系統之外，另一類來自於測量系統內部。外部噪聲源包括市電、無電電台、電火花、脈衝放電以及機械振動等，統稱外部干擾。來自系統內部的噪聲是由各種器件、部件產生的熱噪聲、散粒噪聲和閃爍噪聲等。
來自系統外部的噪聲可用禁止（靜電禁止等）、減震等方法克服，系統內部的噪聲來源於帶電粒子的不連續性（粒子性）以及局部不均（漲落），熱噪聲來源於有功元件中電子的無規運動產生的電壓起伏，散粒噪聲是電子發射的不規則離散性引起的電流起伏，而器件中局部位壘不均則產生閃爍噪聲。對這些干擾信號的噪聲的抑制是微弱光電信號檢測的重要任務。
閃爍噪聲又稱為噪聲。a一般為1、2、4,也有取6或更大值的情況。與散粒噪聲一樣。它同樣與流過被測體系的電流有關、與腐蝕電極的局部陰陽極反應有關；所不同的是引起散粒噪聲的局部陰陽極反應所產生的能量耗散掉了,且E外測表現為零或穩定值2 ,而對應於閃爍噪聲的E外側則表現為具有各種瞬態過程的變數。局部腐蝕(如點蝕)能顯著地改變腐蝕電極上局部微區的陽極反應電阻值,從而導致E外測的劇烈變化。因此,當電極發生局部腐蝕時,如果在開路電位下測定腐蝕電極的電化學噪聲。則電極電位會發生負移,之後伴隨著電極局部腐蝕部位的修復而正移；如果在恆壓情況下測定,則在電流-時間曲線上有一個正的脈衝尖蜂。
