《金屬氧化物半導體氣敏元件總規範(GB/T 15652-1995)》由國家技術監督局發布，本標準由中華人民共和國電子工業部提出。本標準由電子工業部標準化研究所歸口。該標準一九九五年七月二十四日發布，自一九九六年四月一日起正式實施。
基本介紹
- 書名：金屬氧化物半導體氣敏元件總規範
- 作者：國家技術監督局
- 出版日期：1996年8月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066112430
- 外文名：Generic Specification for Gas Sensors of Metal-oxide Semiconductor
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：12頁
- 開本：16
- 品牌：中國標準出版社
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《金屬氧化物半導體氣敏元件總規範(GB/T 15652-1995)》由中國標準出版社出版。
圖書目錄
1主題內容與適用範圍
2總則
2.1優先順序
2.2有關檔案
2.3術語、符號、代號
2.4分類
2.5標誌
3質量評定程式
3.1質量評定體系
3.2初始製造階段
3.3結構相似的元件
3.4鑑定批准程式
3.5質量一致性檢驗
4試驗和測量方法
4.1試驗程式
4.2標準大氣條件
4.3試驗順序
4.4直觀檢查和尺寸檢查及其方法
4.5電氣參數測量及其方法
4.6環境試驗及其方法
4.6.1振動（正弦）
4.6.2衝擊（規定脈衝）
4.6.3跌落
4.6.4引出端強度
4.6.5錫焊
4.6.6溫度衝擊
4.6.7交變濕熱
4.6.8低溫
4.6.9高溫
4.6.10耐腐蝕
4.7電負荷試驗及其方法
4.7.1短期負荷
4.7.2長期負荷
4.8其他試驗及其方法
4.8.1老化
4.8.2防爆
2總則
2.1優先順序
2.2有關檔案
2.3術語、符號、代號
2.4分類
2.5標誌
3質量評定程式
3.1質量評定體系
3.2初始製造階段
3.3結構相似的元件
3.4鑑定批准程式
3.5質量一致性檢驗
4試驗和測量方法
4.1試驗程式
4.2標準大氣條件
4.3試驗順序
4.4直觀檢查和尺寸檢查及其方法
4.5電氣參數測量及其方法
4.6環境試驗及其方法
4.6.1振動（正弦）
4.6.2衝擊（規定脈衝）
4.6.3跌落
4.6.4引出端強度
4.6.5錫焊
4.6.6溫度衝擊
4.6.7交變濕熱
4.6.8低溫
4.6.9高溫
4.6.10耐腐蝕
4.7電負荷試驗及其方法
4.7.1短期負荷
4.7.2長期負荷
4.8其他試驗及其方法
4.8.1老化
4.8.2防爆
