《邊界掃描測試技術及套用》是2016年6月國防工業出版社出版的圖書，作者是陳聖儉、牛春平、石海濱。
基本介紹
- 中文名：邊界掃描測試技術及套用
- 作者：陳聖儉、牛春平、石海濱
- 出版時間：2016年06月
- 出版社：國防工業出版社
- 頁數：257 頁
- ISBN：978-7-118-10714-2
- 定價：79 元
- 開本：32 開
- 裝幀：平裝
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
全書共分10章，主要內容有：邊界掃描測試技術的發展過程及基本原理；邊界掃描標準體系結構框圖及邊界掃描測試的總體概念；TAP控制器的組成和工作原理；指令暫存器和指令系統，以及測試數據暫存器的規定及使用；互連測試及診斷算法原理；混合電路邊界掃描測試標準IEEE1149.4和模組測試及維護匯流排標準IEEE1149.5；對數字電路系統的邊界掃描測試進行了實例剖析；依據混合電路邊界掃描測試標準進行BIT設計的基本原理框架，並給出了分立元件參數線上測試的流程。
圖書目錄
7.2.3隔離內部測試匯流排結構180
7.3ABM模組182
7.3.1ABM的基本結構182
7.3.2ABM的控制185
7.3.3差分ABM187
7.4指令190
7.5測量方法193
7.5.1互連測試193
7.5.2擴展互連測試194
7.5.3網路測量196
第八章模組測試及維護匯流排標準IEEE1149.5197
8.1IEEE1149.5標準簡介197
8.2IEEE1149.5MTM匯流排的結構、定址方式和物理層協定 200
8.3IEEE1149.5MTM匯流排的鏈路層協定202
8.3.1訊息包說明及要求203
8.3.2主模組的鏈路層協定204
8.3.3從模組的鏈路層協定206
8.4IEEE1149.5MTM匯流排的訊息層協定209
第9章數字電路系統邊界掃描測試技術套用212
9.1被測系統描述212
9.1.1被測系統分析212
9.1.2被測系統測試性設計214
9.2主控系統硬體設計222
9.3主控系統軟體設計224
9.4邊界掃描測試驗證與結果分析230
9.4.1邊界掃描互連測試驗證232
9.4.2邊界掃描簇測試驗證238
9.4.3晶片功能自測試驗證241
9.4.4BIST測試241
第10章基於邊界掃描測試技術的混合信號電路BIT套用242
10.1研究對象簡介242
10.2基於邊界掃描技術的混合信號電路測試性設計242
10.3被測電路系統的設計和改造243
10.3.1相關性分析和建模243
10.3.2測試優選246
10.3.3制定診斷策略247
10.3.4基於邊界掃描技術的BIT設計實現248
10.4測試類型和測試方法252
10.4.1邊界掃描鏈路完整性測試252
10.4.2器件間互連測試252
10.4.3分立元件參數測試254
參考文獻257
