邊界掃描指令集

邊界掃描指令集是指選 擇EXTEST指令時，IC工作在邊界掃描外部測試模式（external boundary-test mode），也就是說對IC的操作影響晶片的正常工作。

基本介紹

• 中文名：邊界掃描指令集
• 性質：指令
• 套用：邊界掃描
• 指令：EXTEST

基本信息

指令; （必須/可選）	操作碼	模式	選擇數據暫存器
EXTEST	0..0*	測試	Boundary
SAMPLE/PRELOAD	用戶定義	一般	Boundary
BYPASS	1..1	一般	Bypass
Intest	用戶定義	測試	Boundary
Runbist	用戶定義	測試	用戶定義
Idcode	用戶定義	一般	器件ID
Usercode	用戶定義	一般	器件ID
Clamp	用戶定義	測試	Bypass
HighZ	用戶定義	測試	Bypass
用戶定義	用戶定義	用戶定義	用戶定義

Extest指令

Extest指令--強制指令

用於晶片外部測試，如互連測試

測試模式下的輸出管腳，由BSC update鎖存驅動

BSC scan鎖存捕獲的輸入數據

移位操作，可以從TDI輸入測試激勵，並從TDO觀察測試回響。

在移位操作後，新的測試激勵存儲到BSC的update鎖存

原先EXTEST指令是強制為全“0”的，在IEEE 1149.1—2001中，這條強制取消了。

選擇邊界掃描暫存器連通TDI和TDO。在這種指令下，可以通過邊界掃描輸出單元來驅動測試信號至 其他邊界掃描晶片，以及通過邊界掃描輸入單元來從其他邊界掃描晶片接受測試信號。EXTEST指令是IEEE 1149.1標準的核心所在，在邊界掃描測試中的互連測試（interconnect test）就是基於這個指令的。

Sample/Preload指令

Sample/Preload指令--強制指令

在進入測試模式前對BSC進行預裝載

輸入輸出管腳可正常操作

輸入管腳數據和核心輸出數據裝載到BSC的scan鎖存中。

移位操作，可以從TDI輸入測試激勵，並從TDO觀察測試回響。

在移位操作後，新的測試激勵存儲到BSC的update鎖存。

原先這兩個指令是合在一起的，在IEEE 1149.1--2001中這兩個指令分開了，分成一個SAMPLE指令，一個PRELOAD指令。

選 擇SAMPLE/PRELOAD指令時，IC工作在正常工作模式，也就是說對IC的操作不影響IC的正常工作。選擇邊界掃描暫存器連通TDI和TDO。 SAMPLE指令---通過數據掃描操作（Data Scan）來訪問邊界掃描暫存器，以及對進入和離開IC的數據進行採樣。PRELOAD指令---在進入EXTEST指令之前對邊界掃描暫存器進行數據載入。

Bypass指令

Bypass指令--強制指令

提供穿透晶片的最短通路。

輸入輸出管腳可正常操作

選擇一位的旁路（Bypass）暫存器

強制全為1和未定義的指令為Bypass指令

BYPASS指令為全“1”。選擇BYPASS指令時，IC工作在正常工作模式，選擇一位的BYPASS暫存器連通TDI和TDO，數據的通過不影響IC的正常工作。

INTEST指令

INTEST指令---可選指令

選擇INTEST指令時，IC工作在邊界掃描內部測試模式（internal boundary-test mode），選擇邊界掃描暫存器連通TDI和TDO。在這種指令下，可以通過邊界掃描輸出單元來驅動測試信號至其內部邏輯，以及通過邊界掃描輸入單元來從 其內部邏輯接受測試信號。

RUNBIST指令

RUNBIST指令---可選指令

選擇RUNBIST指令時，IC工作在自測試模式（self-test mode），對IC的內部邏輯進行全面的自測試，通過選擇用戶自定義的數據暫存器連通TDI和TDO。在這種指令下，邊界掃描單元的輸出被內部邏輯控制了，所以外部信號不能幹擾其相鄰IC。

IDCODE指令

IDCODE指令---可選指令

選擇IDCODE指令時，IC工作在正常工作模式，選擇數據識別暫存器（data identification register）連通TDI和TDO。數據識別暫存器是一個32位的暫存器，內容包括IC的生產廠商，晶片類型，版本等。訪問數據識別暫存器不會影響 IC的正常工作。由於IDCODE指令是可選的，不是每個晶片都有的，所以當對一個邊界掃描鏈(scan chain)執行IDCODE指令來輸出所有IDCODE時，有IDCODE指令的晶片就選擇IDCODE暫存器，輸出輸出IDCODE，沒有 IDCODE指令的晶片會自動選擇BYPASS暫存器，輸出一個“0”。

USERCODE指令

USERCODE指令---可選指令

選擇USERCODE指令時，IC工作在正常工作模式，選擇用戶自定義數據暫存器（user defined test data register）連通TDI和TDO。USERCODE指令一般是在進行晶片內部測試時用的。

CLAMP指令

CLAMP指令---可選指令

CLAMP指令使IC的輸出置於由邊界掃描暫存器的當前內容決定的邏輯電平上，選擇BYPASS暫存器連通 TDI和TDO。在載入這個指令之前，邊界掃描暫存器的內容可以由SAMPLE/PRELOAD指令來預置。在CLAMP指令下，數據通過BYPASS寄 存器從TDI傳遞至TDO，不會影響此IC的輸出。

HIGHZ指令

HIGHZ指令---可選指令

HIGHZ指令使IC的所有輸出置於高阻狀態，選擇BYPASS暫存器連通TDI和TDO。在HIGHZ指令下，數據通過BYPASS暫存器從TDI傳遞至TDO，不會影響此IC的輸出。