透射電鏡特殊成像系統

透射電鏡特殊成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2010年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：透射電鏡特殊成像系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2010年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

解析度:可傾動角25時,晶格分辨0.204 nm。

主要功能

樣品成分分析。