《透射電子顯微學：材料科學教材（4卷本）》是2007年8月出版的圖書，作者是David B.Williams C.Barry Carte。
基本介紹
- 書名：透射電子顯微學：材料科學教材（4卷本）
- 作者：（美）威廉、（美）卡特
- 定價：89 元
- 裝幀：平裝
- ISBN：9787302155294
- 印次：1-1
- 印刷日期：2007-8-1
圖書簡介,目錄,
圖書簡介
本書是美國最為流行的教科書之一。它分為4卷：基本概念，衍射理論，成像原理及能譜分析。其中第1卷主要講解電子顯微鏡的基本概念，包括衍射基礎知識、顯微鏡的組成部件、儀器構造與功能以及樣品製備。第2卷介紹衍射圖像、倒易點陣、衍射電子像的標定，以及各種衍射分析方法。第3卷主要是關於成像原理。該卷對材料研究中典型的課題進行系統的介紹。比如晶體缺陷、內應力、相分析等。該卷還著重介紹了高分辨電子顯微鏡和圖像模擬。第4卷討論各種能譜的分析方法與技術。比如X射線譜、X射線定量定性分析、電子能量損失譜等。在電子顯微學研究中最為基本的理論是衍射理論，因而該書利用相當大的篇幅介紹衍射理論以及與其緊密相關的晶體結構，這些知識是材料學專業的重要基礎理論之一。
本書作為教材很有創新性，而且把這一通用的材料表征技術的實際套用進行了必要的介紹和論述，是短時間內掌握電子顯微鏡的最佳學習途徑，無論是電子顯微鏡初學者還是高級研究人員都將開卷有益。它也是亞馬遜網上書店最暢銷的教材之一。
目錄
Ⅰ Basics
1 The Transmission Electron Microscope
2 Scattering and Diffraction
3 Elastic Scattering
4 Inelastic Scattering and Beam Damage
5 Electron Sources
6 Lenses,Apertures,and Resolution
7 How to“See”Electrons
8 Pumps and Holders
9 The Instrument
10 Specimen Preparation
Ⅱ Diffraction
11 Diffraction Patterns
12 Thinking in Reciprocal Space
13 Diffracted Beams
14 Bloch Waves
15 Dispersion Surfaces
16 Diffraction from Crystals
17 Diffraction from Small Volumes
18 Indexing Diffraction Patterns
19 Kikuchi Diffraction
20 Obtaining CBED Patterns
21 Using Convergent-Beam Techniques
Ⅲ Imaging
22 Imaging in the TEM
23 Thickness and Bending Effects
24 Planar Defects
25 Strain Fields
26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy
27 Phase-Contrast Images
28 High-Resolution TEM
29 Image Simulation
30 Quantifying and Processing HRTEM Images
31 Other Imaging Techniques
Ⅳ Spectrometry
32 X-ray Spectrometry
33 The XEDS-TEM Iterface
34 Qualitative X-ray Analysis
35 Qualitative X-ray Microanalysis
36 Spatial Resolution and Minimum Detectability
37 Electron Energy-Loss Spectrometers
38 The Energy-Loss Spectrum
39 Microanalysis with lonization-Loss Electrons
40 Everything Else in the Spectrum
