近場綜合測量系統

近場綜合測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2015年11月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：近場綜合測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2015年11月19日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器 > EMI/EMC測試系統

技術指標

頻率範圍50GHz，天線方向圖測量，數據後處理。

主要功能

天線與饋源測量。