多探頭測試系統

多探頭測試系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2012年12月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：多探頭測試系統
• 產地：法國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2012年12月27日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

1、頻段：800MHz-6GHz；2、測量天線尺寸上限：450mm；3、主要測試指標：方向圖、極化、增益、效率。4、主要附屬檔案設備：校準喇叭（2隻）、原裝標準電纜（6根）、原裝泡沫支撐構件。

主要功能

天線方向圖、增益的球面近場測試。